[發(fā)明專利]基于結(jié)構(gòu)稀疏表示和內(nèi)部聚類濾波的高光譜異常目標(biāo)檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710098077.0 | 申請日: | 2017-02-23 |
| 公開(公告)號: | CN106919952A | 公開(公告)日: | 2017-07-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張艷寧;李飛;張秀偉;陳妍佳;張磊;魏巍;蔣冬梅 | 申請(專利權(quán))人: | 西北工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62 |
| 代理公司: | 西北工業(yè)大學(xué)專利中心61204 | 代理人: | 王鮮凱 |
| 地址: | 710072 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 結(jié)構(gòu) 稀疏 表示 內(nèi)部 濾波 光譜 異常 目標(biāo) 檢測 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種高光譜異常目標(biāo)檢測方法,特別是涉及一種基于結(jié)構(gòu)稀疏表示和內(nèi)部聚類濾波的高光譜異常目標(biāo)檢測方法。
背景技術(shù)
高光譜異常目標(biāo)檢測技術(shù)是一種不需要提供待測目標(biāo)先驗(yàn)光譜信息的前提下,僅利用圖像像元之間的光譜差異性進(jìn)行目標(biāo)檢測的高光譜目標(biāo)檢測技術(shù),在實(shí)際應(yīng)用中具有較強(qiáng)的實(shí)用性。
相對于整個(gè)高光譜圖像,異常目標(biāo)不僅出現(xiàn)的概率較低,而且所占的比例也較少,傳統(tǒng)的異常目標(biāo)檢測算法一般假設(shè)圖像背景服從高斯分布。在這種假設(shè)下可以利用全局或局部的統(tǒng)計(jì)特性來檢測異常目標(biāo)。然而,在實(shí)際應(yīng)用中由于受到空間分辨率限制,圖像背景具有較高的復(fù)雜性,僅通過假設(shè)背景服從高斯分布來進(jìn)行異常目標(biāo)檢測,不能取得很好的檢測效果。
近年來,基于稀疏表示的高光譜異常目標(biāo)檢測算法受到越來越多的關(guān)注。該類算法假設(shè)圖像中的像元可以通過背景和目標(biāo)的字典線性稀疏表示,在求得稀疏向量后,利用重建誤差的大小提取異常目標(biāo)。在實(shí)際應(yīng)用中具有很好的靈活性和可擴(kuò)展性。文獻(xiàn)“Li J,Zhang H,Zhang L,et al.Hyperspectral anomaly detection by the use of background joint sparse representation[J].Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing,IEEE Journal of,2015,8(6):2523-2533.”公開了一種基于背景聯(lián)合稀疏表示的高光譜異常目標(biāo)檢測方法。該方法首先以全部圖像像元作為字典,通過稀疏表示模型求解稀疏向量,根據(jù)所求的非零稀疏向量位置確定局部背景像元,然后根據(jù)局部背景像元建立局部正交子空間提取異常目標(biāo)。文獻(xiàn)所述方法在選取局部背景像元時(shí)每次都使用了大規(guī)模的全局像元作為字典,給求解稀疏向量帶來較大的計(jì)算負(fù)擔(dān);在求解稀疏向量時(shí)沒有考慮稀疏向量內(nèi)部的結(jié)構(gòu)稀疏信息,造成求解稀疏向量不準(zhǔn)確;未有效考慮高光譜圖像中像元之間的空間約束,目標(biāo)檢測效率不高。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有高光譜異常目標(biāo)檢測方法目標(biāo)檢測效率低的不足,本發(fā)明提供一種基于結(jié)構(gòu)稀疏表示和內(nèi)部聚類濾波的高光譜異常目標(biāo)檢測方法。該方法在稀疏表示理論框架下,首先基于局部RX算法選擇初始背景像元后,利用主成分分析字典學(xué)習(xí)法學(xué)習(xí)得到魯棒性的背景字典。稀疏向量求解和圖像重建過程中,引入重加權(quán)拉普拉斯先驗(yàn),提高稀疏向量求解精度。計(jì)算原始圖像與重建圖像之間的誤差得到稀疏表示誤差。此外,利用內(nèi)部聚類濾波表示高光譜數(shù)據(jù)的空譜特性,通過計(jì)算待測像元與它同類其他像元線性表示結(jié)果的誤差,得到內(nèi)部聚類誤差,最后聯(lián)合稀疏表示誤差與內(nèi)部聚類誤差的線性加權(quán)和實(shí)現(xiàn)異常目標(biāo)的精確提取。在真實(shí)的高光譜衛(wèi)星圖像AVIRIS、HYDICE和仿真的高光譜數(shù)據(jù)集上的試驗(yàn)結(jié)果表明,本發(fā)明獲得的檢測結(jié)果相對于已有的異常目標(biāo)檢測方法在恒虛警率的前提下檢測率提高了10%~15%。
本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:一種基于結(jié)構(gòu)稀疏表示和內(nèi)部聚類濾波的高光譜異常目標(biāo)檢測方法,其特點(diǎn)是包括以下步驟:
步驟一、輸入一幅高光譜圖像,選用局部雙窗RX算法獲取背景像元集合。局部RX算法計(jì)算公式如下:
DLocalRX(xi)=(xi-μlocal(i))T(∑local(i))-1(xi-μlocal(i)) (1)
式中,xi表示第i個(gè)像元,μlocal(i)表示xi像元所對應(yīng)的局部背景的均值,(∑local(i))-1表示xi像元所對應(yīng)的局部背景的協(xié)方差矩陣的逆矩陣,利用公式(1)遍歷所有高光譜像元后選取閾值進(jìn)行背景分割,小于閾值的對應(yīng)像元為背景像元,得到背景像元矩陣Zlocal,大小為nb×NZ,nb表示高光譜數(shù)據(jù)波段個(gè)數(shù),NZ表示局部背景像元的個(gè)數(shù)。所述閾值取0.007~0.01;
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