[發(fā)明專利]元件芯片的制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710088563.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-02-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107180753B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-05-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 置田尚吾;針貝篤史 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 松下知識(shí)產(chǎn)權(quán)經(jīng)營(yíng)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L21/3065 | 分類號(hào): | H01L21/3065 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 齊秀鳳 |
| 地址: | 日本國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 元件 芯片 制造 方法 | ||
一種元件芯片的制造方法,在對(duì)保持在保持片的基板進(jìn)行等離子體切割時(shí)提高產(chǎn)品的成品率。元件芯片的制造方法包括:準(zhǔn)備工序,準(zhǔn)備將基板的第1主面粘接到保持片而保持在保持片的基板;載置工序,將保持了基板的保持片載置到設(shè)置在等離子體處理裝置內(nèi)的載置臺(tái);和等離子體切割工序,將基板的分割區(qū)域等離子體蝕刻到第1主面,將基板單片化為多個(gè)元件芯片。等離子體切割工序包括:第1等離子體蝕刻工序,在載置臺(tái)與保持片之間供給冷卻用氣體,同時(shí)等離子體蝕刻分割區(qū)域的厚度的一部分;和第2等離子體蝕刻工序,在第1等離子體蝕刻工序之后,停止冷卻用氣體的供給,等離子體蝕刻分割區(qū)域的剩余部分。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)涉及由保持在保持片的基板制造元件芯片的方法。
背景技術(shù)
作為切割具備由分割區(qū)域劃定的多個(gè)元件區(qū)域的基板的方法,已知對(duì)該分割區(qū)域進(jìn)行等離子體蝕刻,從而將基板分割為多個(gè)元件芯片的等離子體切割。近年來(lái),電子設(shè)備變得小型化以及薄型化,電子設(shè)備中搭載的IC芯片等的厚度變小。與此同時(shí),成為等離子體切割的對(duì)象的用于形成IC芯片等的基板的厚度也變小,基板變得容易撓曲。
專利文獻(xiàn)1教導(dǎo)了下述內(nèi)容:為了提高運(yùn)輸、拾取等中的基板或者元件芯片的操作性,在使基板保持在具備框架和覆蓋其開(kāi)口部的保持片的運(yùn)輸載體的狀態(tài)下,載置到等離子體處理裝置具備的載置臺(tái),進(jìn)行等離子體切割。在使用保持片的情況下,若保持片變得高溫,則會(huì)伸長(zhǎng)或損傷等,從而單片化了的元件芯片脫落,或者從保持片拾取元件芯片變得困難。因此,載置臺(tái)具備用于粘著保持片的靜電吸附機(jī)構(gòu)并且被冷卻。通過(guò)使保持片靜電吸附到被冷卻了的載置臺(tái),從而等離子體處理中的保持片也被冷卻。
在先技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:國(guó)際公開(kāi)第2012/164857號(hào)小冊(cè)子
將具備包含絕緣膜的電路層的基板保持在保持片的狀態(tài)下進(jìn)行等離子體切割的情況下,對(duì)埋設(shè)在載置臺(tái)的高頻電極施加較大的高頻電力,施加較高的偏置電壓的同時(shí)進(jìn)行等離子體處理。據(jù)此,蝕刻速度變快,能夠提高吞吐量。另一方面,若施加較高的偏置電壓,則保持片容易變得高溫。因此,根據(jù)提高吞吐量的觀點(diǎn),也需要在等離子體處理中使保持片高效地冷卻。
然而,在處理對(duì)象不是保持于保持片的基板,而是具有足夠的厚度的基板單體的情況下,為了提高基板的冷卻效率,有時(shí)使基板靜電吸附于載置臺(tái),同時(shí)從設(shè)置在載置臺(tái)表面的氣孔向基板與載置臺(tái)之間供給氦氣(He)等導(dǎo)熱氣體作為冷卻用氣體。此時(shí),通過(guò)提高供給到基板與載置臺(tái)之間的導(dǎo)熱氣體的壓力,從而進(jìn)一步提高基板的冷卻效率。
但是,在使用保持片的情況下,有時(shí)難以提高供給到載置臺(tái)與保持片之間的導(dǎo)熱氣體的壓力。因?yàn)楸3制瑢?duì)載置臺(tái)的靜電吸附力,比基板單體對(duì)載置臺(tái)的靜電吸附力弱。而且,若伴隨等離子體蝕刻的進(jìn)展而基板的分割區(qū)域的厚度變小,則基板難以保持平坦的形狀。因此,通過(guò)經(jīng)由保持片的來(lái)自載置臺(tái)側(cè)的導(dǎo)熱氣體的壓力,基板變得容易以分割區(qū)域?yàn)槠瘘c(diǎn)而與保持片一起從載置臺(tái)浮起。若基板從載置臺(tái)浮起,則容易產(chǎn)生加工形狀的異常、異常放電等問(wèn)題。而且,因?yàn)楸3制c載置臺(tái)的粘著性降低,所以不能充分地冷卻保持片。
此外,進(jìn)行等離子體切割的情況下,存在靜電吸附力容易變得不穩(wěn)定的課題。一般靜電吸附所使用的靜電吸附用電極(以下稱為ESC電極),存在利用約翰遜-拉貝克(Johnsen-Rahbek)力的ESC電極和利用庫(kù)侖(Coulomb)力的ESC電極。在等離子體切割中,基板需要經(jīng)由保持片而吸附到載置臺(tái)。如保持片為絕緣性的情況那樣,在約翰遜-拉貝克力難以發(fā)揮作用的情況下,優(yōu)選使用利用庫(kù)侖力的ESC電極。
在利用庫(kù)侖力的ESC電極的情況下,在基板以及保持片的表面所帶電的電荷與設(shè)置在載置臺(tái)內(nèi)部的ESC電極之間產(chǎn)生靜電吸附力。在等離子體切割中,基板在保持片上被單片化為元件芯片。此時(shí),由于基板的膜厚分布、等離子體的分布等的影響,對(duì)于被單片化的時(shí)機(jī),在基板面內(nèi)產(chǎn)生偏差。因此,若在等離子體切割的過(guò)程開(kāi)始基板的單片化,則基板表面所帶電的電荷的面內(nèi)分布變得不均勻,靜電吸附力容易變得不穩(wěn)定。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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