[發(fā)明專利]基板處理裝置以及半導(dǎo)體器件的制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710059927.6 | 申請日: | 2017-01-24 |
| 公開(公告)號: | CN107026108B | 公開(公告)日: | 2020-10-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 中田高行;谷山智志;白子賢治 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社國際電氣 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人: | 陳偉;孫明軒 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 處理 裝置 以及 半導(dǎo)體器件 制造 方法 | ||
1.一種基板處理裝置,其特征在于,具備:
移載室,其將基板移載到基板保持件上;
上部氣體供給機構(gòu),其從第1氣體供給口向所述移載室的上部區(qū)域供給氣體;和
下部氣體供給機構(gòu),其與所述上部氣體供給機構(gòu)相鄰地設(shè)置在所述上部氣體供給機構(gòu)的下方,并從第2氣體供給口向所述移載室的下部區(qū)域供給氣體,
在所述基板保持件上所保持的所述基板的下方設(shè)有絕熱部,所述移載室的上部區(qū)域是與所述基板保持件的所述基板所處的基板區(qū)域?qū)?yīng)的區(qū)域,所述移載室的下部區(qū)域是與所述基板保持件的所述絕熱部所處的絕熱部區(qū)域?qū)?yīng)的區(qū)域,
所述上部氣體供給機構(gòu)具有:
第1緩沖室,其形成在第1氣體供給口的背面;
第1管道,其在所述第1緩沖室的兩側(cè)面形成有一對;和
第1送風(fēng)部,其設(shè)置在所述第1管道的下端,
所述下部氣體供給機構(gòu)具有:
第2緩沖室,其形成在第2氣體供給口的背面;
第2管道,其形成在所述第2緩沖室的下表面;和
第2送風(fēng)部,其設(shè)置在所述第2管道的下端。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板處理裝置,其特征在于,所述第1送風(fēng)部以與一對所述第1管道對應(yīng)的方式在所述第1管道的下端設(shè)置有兩個,
所述第2送風(fēng)部設(shè)置在兩個所述第1送風(fēng)部之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基板處理裝置,其特征在于,所述第1緩沖室比所述第2緩沖室大。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基板處理裝置,其特征在于,所述第1管道從所述第1緩沖室的上端沿著所述第2緩沖室的兩側(cè)面延伸至所述第2管道的下端的位置。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基板處理裝置,其特征在于,所述第2管道在主視下形成為漏斗狀。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基板處理裝置,其特征在于,所述第1管道以朝向上方而截面積逐漸變小的方式形成。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板處理裝置,其特征在于,在所述第1氣體供給口以及所述第2氣體供給口中的至少一個氣體供給口上設(shè)置有風(fēng)向部。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基板處理裝置,其特征在于,所述風(fēng)向部具有:
第3氣體供給口,其在所述風(fēng)向部的整個面上形成;和
第3緩沖室,其形成在所述第3氣體供給口的背面。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基板處理裝置,其特征在于,所述第3氣體供給口比所述第1氣體供給口大。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的基板處理裝置,其特征在于,所述第3氣體供給口通過具有多個開口的沖孔部件形成,
在所述第3氣體供給口的中央部和所述中央部的兩側(cè)部具有不同的開口率。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的基板處理裝置,其特征在于,所述中央部的開口率比所述兩側(cè)部的開口率高。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的基板處理裝置,其特征在于,所述中央部的面積為與所述第1供給口相同的面積。
13.一種半導(dǎo)體器件的制造方法,其特征在于,具有:
在移載室將基板移載至基板保持件上的工序;和
在處理室處理所述基板保持件上所保持的所述基板的工序,
從上部氣體供給機構(gòu)向所述移載室的上部區(qū)域供給氣體,并從下部氣體供給機構(gòu)向所述移載室的下部區(qū)域供給氣體,其中,所述上部氣體供給機構(gòu)具有:形成在第1氣體供給口的背面的第1緩沖室;在所述第1緩沖室的兩側(cè)面形成有一對的第1管道;和在所述第1管道的下端設(shè)置有一對的第1送風(fēng)部,所述下部氣體供給機構(gòu)具有:形成在第2氣體供給口的背面的第2緩沖室;形成在所述第2緩沖室的下表面的第2管道;和設(shè)置在所述第2管道的下端的第2送風(fēng)部,并與所述上部氣體供給機構(gòu)相鄰地設(shè)置在所述上部氣體供給機構(gòu)的下方,所述移載室的上部區(qū)域是與所述基板保持件的所述基板所處的基板區(qū)域?qū)?yīng)的區(qū)域,所述移載室的下部區(qū)域是與設(shè)于所述基板保持件的下方的絕熱部所處的絕熱部區(qū)域?qū)?yīng)的區(qū)域。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會社國際電氣,未經(jīng)株式會社國際電氣許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710059927.6/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:電子部件的制造裝置及制造方法以及電子部件
- 下一篇:蒸汽熨斗
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





