[發(fā)明專(zhuān)利]一種半導(dǎo)體激光器芯片的測(cè)試系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710044814.9 | 申請(qǐng)日: | 2017-01-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106597263A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡海;劉文斌;王泰山;李成鵬;方繼林 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 深圳清華大學(xué)研究院;深圳瑞波光電子有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)44280 | 代理人: | 何青瓦 |
| 地址: | 518000 廣*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體激光器 芯片 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
1.一種半導(dǎo)體激光器芯片的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括:
測(cè)試柜,其包括裝載平臺(tái),多個(gè)待測(cè)試的芯片組件放置在所述裝載平臺(tái)上;
測(cè)試電源,用以所述多個(gè)待測(cè)試的芯片組件提供測(cè)試電流;
冷卻子系統(tǒng),用于向所述裝載平臺(tái)提供循環(huán)冷卻液體,以為所述芯片組件的測(cè)試提供穩(wěn)定可靠的溫度;
溫度監(jiān)控子系統(tǒng),用于監(jiān)控所述裝載平臺(tái)和循環(huán)冷卻液體的溫度;
計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng),分別與所述測(cè)試電源、冷卻子系統(tǒng)以及溫度監(jiān)控子系統(tǒng)連接,用以控制所述冷卻子系統(tǒng)提供具有穩(wěn)定可靠的溫度的循環(huán)冷卻液,并根據(jù)所述溫度監(jiān)控子系統(tǒng)所監(jiān)控的結(jié)果,向所述測(cè)試電源發(fā)出相應(yīng)的控制指令。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)根據(jù)所述溫度監(jiān)控子系統(tǒng)所監(jiān)控的結(jié)果,向所述測(cè)試電源發(fā)出相應(yīng)的控制指令,包括:
當(dāng)所述溫度監(jiān)控子系統(tǒng)監(jiān)控到溫度異常時(shí),所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)向所述測(cè)試電源發(fā)出切斷指令,以使所述測(cè)試電源停止向所述芯片組件提供測(cè)試電流。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述溫度監(jiān)控子系統(tǒng)包括設(shè)置在所述裝載平臺(tái)上的溫度探頭,用于探測(cè)所述裝載平臺(tái)的溫度。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述溫度探頭為三個(gè),分別沿所述芯片組件分布的方向設(shè)置在所述裝載平臺(tái)上的不同位置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述冷卻子系統(tǒng)包括:
冷卻液體供給機(jī),用于提供和回收循環(huán)冷卻液體,并且與所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)連接;
冷卻回路,其兩端分別連接所述冷卻液體供給機(jī),所述裝載平臺(tái)設(shè)置在所述冷卻回路上;
主閥門(mén),設(shè)置在所述冷卻液體供給機(jī)的出液口與所述裝載平臺(tái)之間的所述冷卻回路上,并與所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)連接,以在所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)的控制下進(jìn)行開(kāi)啟和關(guān)閉。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述冷卻子系統(tǒng)進(jìn)一步包括:
流量計(jì),設(shè)置在所述冷卻液體供給機(jī)的入液口與所述裝載平臺(tái)之間的所述冷卻回路上,并與所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)連接,以將測(cè)量的流量數(shù)據(jù)發(fā)送至所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述冷卻子系統(tǒng)進(jìn)一步包括:
冷卻液品質(zhì)檢測(cè)儀,設(shè)置在所述冷卻液體供給機(jī)的入液口與所述裝載平臺(tái)之間的所述冷卻回路上,并與所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)連接,以將測(cè)量的冷卻液品質(zhì)數(shù)據(jù)發(fā)送至所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述冷卻液品質(zhì)數(shù)據(jù)包括pH值和電導(dǎo)率。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述冷卻子系統(tǒng)進(jìn)一步包括:
過(guò)濾器,設(shè)置在所述主閥門(mén)和所述冷卻液體供給機(jī)的出液口之間的所述冷卻回路上。
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,溫度監(jiān)控子系統(tǒng)包括設(shè)置在所述主閥門(mén)與所述裝載平臺(tái)之間的所述冷卻回路上的溫度探頭,用于測(cè)量循環(huán)冷卻液體的溫度。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述測(cè)試柜包括多個(gè)所述裝載平臺(tái),所述冷卻子系統(tǒng)進(jìn)一步包括分流閥,所述分流閥設(shè)置在所述主閥門(mén)與所述多個(gè)裝載平臺(tái)之間,所述溫度探頭設(shè)置在所述分流閥內(nèi)。
12.根據(jù)權(quán)利要求1至11中任一項(xiàng)所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,進(jìn)一步包括:
空氣粒子計(jì)數(shù)器,設(shè)置在所述測(cè)試柜中,并與所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)連接,用于監(jiān)控所述測(cè)試柜內(nèi)的空氣潔凈度,并將空氣潔凈度結(jié)果發(fā)送至所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng),所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)根據(jù)所述空氣潔凈度結(jié)果,向所述測(cè)試電源發(fā)出相應(yīng)的控制指令。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)根據(jù)所述空氣潔凈度結(jié)果,向所述測(cè)試電源發(fā)出相應(yīng)的控制指令,包括:
當(dāng)所述空氣潔凈度結(jié)果異常時(shí),所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)向所述測(cè)試電源發(fā)出切斷指令,以使所述測(cè)試電源停止向所述芯片組件提供測(cè)試電流。
14.根據(jù)權(quán)利要13所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,進(jìn)一步包括:
報(bào)警子系統(tǒng),與所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)連接,當(dāng)計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)向所述測(cè)試電源發(fā)出切斷指令時(shí),所述計(jì)算機(jī)處理子系統(tǒng)控制所述報(bào)警子系統(tǒng)發(fā)出警報(bào)。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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