[發明專利]基于電子細分技術的高精度光學測微儀在審
| 申請號： | 201710030760.0 | 申請日： | 2017-01-16 |
| 公開（公告）號： | CN108317957A | 公開（公告）日： | 2018-07-24 |
| 發明（設計）人： | 王威立;栗文雁;李春杰;李達;王曉雷;蔣志強 | 申請（專利權）人： | 王威立 |
| 主分類號： | G01B11/02 | 分類號： | G01B11/02;G01B11/08 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 450000 河南省鄭州市二*** | 國省代碼： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 線陣CCD傳感器 光學測微儀 測微儀器 圖像處理 細分技術 坐標變換 擬合法 測量 | ||
【權利要求書】：
1.基于電子細分技術的高精度光學測微儀，其特征在于具體如下：1)根據邊緣閾值電壓找到上下4個相臨的像元，把像元的位置作為橫坐標，像元電壓值作為縱坐標；2)對取到的4個像元坐標進行多項式曲線擬合，并對擬合后的曲線進行二次求導運算，找到曲線斜率最大值對應的橫坐標，該坐標值即為檢測物體邊緣點的坐標。
2.根據權利要求1所述的基于電子細分技術的高精度光學測微儀，其特征在于：對取到的4個像元坐標進行多項式曲線擬合時，為加快運算速度，采用坐標平移的方法。
3.根據權利要求1所述的基于電子細分技術的高精度光學測微儀，其特征在于：對取到的4個像元坐標進行多項式曲線擬合時，曲線為3次多項式。
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