[發明專利]一種用于中子衍射應力分析的三維定標測量裝置

有效

• 申請號: 201710017152.6
• 申請日: 2017-01-11
• 公開（公告）號: CN106770402B
• 公開（公告）日: 2023-08-04
• 發明（設計）人: 張瑩;張昌盛;孫光愛;王虹;龔建;李洪佳;龐蓓蓓;張潔
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院核物理與化學研究所
• 主分類號: G01N23/207
• 分類號: G01N23/207
• 代理公司: 中國工程物理研究院專利中心 51210
• 代理人: 翟長明;韓志英

1.一種用于中子衍射應力分析的三維定標測量裝置，其特征在于，所述的三維定標測量裝置包括三維掃描儀(1)、樣品臺(2)、計算機(3)、入射狹縫(4)、衍射狹縫(6)、準直器(7)和中子探測器(8)；所述的三維掃描儀(1)包括光柵投影儀(9)，攝像機Ⅰ(10)和攝像機Ⅱ(11)，光柵投影儀(9)發射光柵束至樣品(5)，通過攝像機Ⅰ(10)和攝像機Ⅱ(11)的互補測量獲得樣品(5)的掃描圖像；樣品(5)放置在所述的樣品臺(2)上，中子源發射的中子射線經入射狹縫(4)入射至樣品(5)，衍射后的中子射線沿衍射狹縫(6)入射至準直器(7)后由中子探測器(8)接收，入射狹縫(4)和衍射狹縫(6)呈布拉格角排列；所述的三維掃描儀(1)掃描樣品(5)，并將掃描圖像傳輸至計算機(3)；所述的計算機(3)控制樣品臺(2)移動，改變三維掃描儀(1)掃描的樣品(5)的測量點位置，通過計算機(3)中的中子衍射應力分析模塊實現樣品(5)的中子衍射應力分析的三維定標測量。

2.根據權利要求1所述的用于中子衍射應力分析的三維定標測量裝置，其特征在于：所述的三維掃描儀(1)包括光柵投影儀(9)，攝像機Ⅰ(10)和攝像機Ⅱ(11)，光柵投影儀(9)發射光柵束至樣品(5)，通過攝像機Ⅰ(10)和攝像機Ⅱ(11)的互補測量獲得樣品(5)的掃描圖像。

3.根據權利要求1所述的用于中子衍射應力分析的三維定標測量裝置，其特征在于：所述的樣品臺(2)為四自由度運動機構，通過電機帶動樣品(5)在X、Y、Z方向運動和水平旋轉。

4.根據權利要求1或2所述的用于中子衍射應力分析的三維定標測量裝置，其特征在于：所述的三維掃描儀(1)與計算機(3)之間的通訊采用光纖通訊、串口通訊或以太網通訊中的一種。

5.根據權利要求1或3所述的用于中子衍射應力分析的三維定標測量裝置，其特征在于：所述的樣品臺(2)與計算機(3)之間的通訊采用串口通訊或以太網通訊中的一種。

6.根據權利要求1所述的用于中子衍射應力分析的三維定標測量裝置，其特征在于：所述的入射狹縫(4)和衍射狹縫(6)窗口尺寸范圍為0mm×0mm至20mm×100mm的矩形窗口。

7.根據權利要求1所述的用于中子衍射應力分析的三維定標測量裝置，其特征在于：所述的準直器(7)為徑向準直器或Soller準直器中的一種。

8.根據權利要求1所述的用于中子衍射應力分析的三維定標測量裝置，其特征在于：所述的中子探測器(8)的結構為多絲正比室結構或3He管組成的探測器陣列結構中的一種。

9.根據權利要求1所述的用于中子衍射應力分析的三維定標測量裝置，其特征在于：所述的中子源為反應堆中子源、脈沖堆中子源或散裂中子源中的一種。