[發明專利]料位測量設備

有效

• 申請號: 201710013945.0
• 申請日: 2017-01-09
• 公開（公告）號: CN107014464B
• 公開（公告）日: 2019-11-15
• 發明（設計）人: 亞歷山德拉·庫季爾;羅伯·韋爾默朗
• 申請（專利權）人: 恩德萊斯和豪瑟爾歐洲兩合公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 11219 中原信達知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 戚傳江;金潔<國際申請>=<國際公布>=

1.料位測量設備，用于測量產品（1）的料位（L），包括：

-安裝裝置（3），所述安裝裝置（3）用于將所述測量設備安裝在測量位置，

-天線（9），所述天線（9）包括用于向所述產品（1）發送微波信號和/或用于接收由所發送的微波信號的反射產生的回波信號（R）的電介質天線元件（11），以及

-測量電子器件（15），所述測量電子器件（15）用于基于所述微波信號行進到所述產品（1）的表面以及其回波信號返回到所述設備所需的渡越時間確定所述產品（1）的所述料位（L），

其特征在于，

-所述設備進一步包括蓋（25），所述蓋（25）覆蓋所述電介質天線元件（11），以及

-清潔裝置（27），所述清潔裝置（27）預知用于清潔所述蓋（25），當所述清潔裝置（27）啟動時，其致使所述蓋（25）的與信號傳輸路徑間隔開的側壁部分（41）振動。

2.根據權利要求1所述的料位測量設備，其特征在于，所述電介質天線元件（11）是包括指向所述產品（1）的球形前表面（13）的大致球形元件，所述微波信號將通過所述前表面發送和/或接收。

3.根據權利要求1所述的料位測量設備，其特征在于，

-所述天線（9）通過波導（17）連接到所述測量電子器件（15），

-延伸部（19）預知在所述天線元件（11）上，并且

-當所述設備被安裝在所述測量位置時，所述延伸部（19）被固定在面向所述產品（1）的所述波導（17）的端部內。

4.根據權利要求1所述的料位測量設備，其特征在于，所述蓋（25）由對將通過所述天線（9）發送和/或接收的所述微波信號透明的材料制成。

5.根據權利要求1所述的料位測量設備，其特征在于，所述蓋（25）與所述天線元件（11）的前表面（13）間隔開，所述微波信號將通過所述前表面（13）發送和/或接收，所述間隔開的距離小但同時足夠大以允許所述蓋（25）自由地振動。

6.根據權利要求1所述的料位測量設備，其特征在于，

-當所述設備被安裝在所述測量位置時，所述天線元件（11）被安裝在面向所述產品（1）的波導（17）的端部上，并且

-安裝裝置（31），預知用于將所述蓋（25）的圓柱形端部（33）安裝到所述波導（17）的所述端部的外導體（29）上。

7.根據權利要求6所述的料位測量設備，其特征在于，

-加強件（35）預知在所述外導體（29）上，并且

-所述蓋（25）的所述端部（33）被安裝在所述加強件（35）上。

8.根據權利要求1所述的料位測量設備，其特征在于，

當所述設備通過隔離元件（21）被安裝在測量位置時，所述測量電子器件（15）位于與所述天線元件（11）暴露于的所述測量位置隔離開的位置，

- 所述天線（9）通過延伸穿過所述隔離元件（21）的波導（17）連接到所述測量電子器件（15），并且

-當所述設備被安裝在所述測量位置時，所述蓋（25）被安裝到所述隔離元件（21）面向所述測量位置的下側上。

9.根據權利要求8所述的料位測量設備，其特征在于，

- 所述蓋（25）的端部（33）包括在其外側上的延伸部（37），并且

-所述延伸部（37）平行于所述隔離元件（21）的表面延伸，并且通過接合所述延伸部（37）的保持器（39）壓靠所述表面，所述保持器（39）被安裝到所述隔離元件（21）的所述下側上。