[發明專利]一種TTL到ECL的電平轉換器的測試方法及系統

有效

• 申請號: 201710002498.9
• 申請日: 2017-01-03
• 公開（公告）號: CN106885984B
• 公開（公告）日: 2019-08-13
• 發明（設計）人: 張曉羽
• 申請（專利權）人: 航天科工防御技術研究試驗中心
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 李陽;李浩

本發明公開了一種TTL到ECL的電平轉換器的測試方法及系統，所述方法包括：在測試系統的電源設置模塊中增加輔助電源，并且對輔助電源的管腳配置進行設置；在相應的電源設置模塊中分別設置輔助電源的電壓值、限流、延遲參數；將待測電平轉換器的相應接口連接到測試系統中，且將待測電平轉換器的輸出接口均分別通過電阻連接到輔助電源上；按照測試需求，建立待測電平轉換器的測試流程并在測試系統中選取相應的測試方法進行電平轉換器的測試。所述TTL到ECL的電平轉換器的測試方法及系統通過新增輔助電源并且相應的設置參數，使得測試系統能夠滿足電平轉換器的測試需求，進而完成電平轉換器的各項測試，提高了電平轉換器性能測試的穩定性和可靠性。

技術領域

本發明涉及電平轉換器測試的技術領域，特別是指一種TTL到ECL的電平轉換器的測試方法及系統。

背景技術

TTL(Transister-Transister-Logic)電路是指晶體管-晶體管邏輯電路，是數字集成電路的一大門類。TTL電路采用雙極型工藝制造，具有高速度低功耗和品種多等特點。ECL(Emitter Couple Logic)電路是指射極耦合邏輯集成電路，與TTL電路不同，ECL電路的最大特點是其基本門電路工作在非飽和狀態。所以，ECL電路的最大優點是具有相當高的速度，這種電路的平均延遲時間可達幾個毫微秒甚至亞毫微秒數量級。這使得ECL集成電路在高速和超高速數字系統中具有較大的優勢，能夠廣泛用于數字通信、雷達等領域。

在新一代電子電路設計中，隨著低電壓邏輯的引入，系統內部常常出現輸入/輸出邏輯不協調的問題，從而提高了系統設計的復雜性。例如，當1.8V的數字電路與工作在3.3V的模擬電路進行通信時，需要首先解決兩種電平的轉換問題，這時就需要通過電平轉換器來實現這一功能。同時，隨著不同工作電壓的數字IC的不斷涌現，邏輯電平轉換的必要性更加突出，電平轉換方式也將隨邏輯電壓、數據總線的形式(例如4線SPI、32位并行數據總線等)以及數據傳輸速率的不同而改變。

但是，對于TTL到差分ECL的電平轉換器來說，由于其輸出為差分ECL信號，所以功能及交直流參數的測試條件比較特殊。從而導致常見的測試系統有時候不能滿足某些TTL到差分ECL的電平轉換器的測試需求，例如J750測試系統的數字通道電壓范圍為-1V至6V，截止電壓的最小值為-1V；Magnum II測試系統的數字通道電壓范圍為-1.5V至6.5V；MagnumV測試系統的數字通道電壓范圍為-1.5V至4.5V；T5385ES測試系統的數字通道電壓范圍為-1.5V至5V；M5S測試系統的數字通道電壓范圍為-1.5V至6.5V。這些測試系統的截止電壓最小值均為-1.5V或-1V，而有一些TTL到差分ECL的電平轉換器的測試條件為“50ohm to-2V”，也即需要的測試電壓為-2V，若是現有測試系統不能滿足電平轉換器的測試條件，將會影響這一類電平轉換器邏輯功能、交流參數以及直流參數VOH、VOL等的測試。進而給這一類電平轉換器的使用帶來不便。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提出一種TTL到ECL的電平轉換器的測試方法及系統，使得測試系統能夠滿足電平轉換器的測試需求。

基于上述目的本發明提供的一種TTL到ECL的電平轉換器的測試方法，包括：

在測試系統的電源設置模塊中增加一個輔助電源，并且對輔助電源的管腳配置進行設置；

在輔助電源相應的電源設置模塊中分別設置輔助電源的電壓值、限流、延遲參數；

將待測電平轉換器的相應接口連接到測試系統中，且將待測電平轉換器的輸出接口均分別通過電阻連接到輔助電源上；

按照測試需求，建立待測電平轉換器的測試流程并在測試系統中選取相應的測試方法進行電平轉換器的測試。

可選的，所述在測試系統的電源設置模塊中增加一個輔助電源的步驟之前還包括：