[發明專利]超聲波質量控制方法及超聲波檢查裝置

有效

• 申請號: 201680087026.1
• 申請日: 2016-11-29
• 公開（公告）號: CN109313163B
• 公開（公告）日: 2021-04-13
• 發明（設計）人: T·哈卡賴寧
• 申請（專利權）人: 瓦錫蘭芬蘭有限公司
• 主分類號: G01N29/06
• 分類號: G01N29/06;G01N29/30;G01N29/44;G01S15/89;G06K9/36;G06T7/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 劉愛勤;黃綸偉

1.一種控制工件的質量的超聲波質量控制方法，所述方法包括以下步驟：

利用至少一個超聲波探頭來掃描所述工件(101)；

通過所述掃描形成至少一個圖像(102)，

其特征在于，所述方法還包括以下步驟：

利用至少一個超聲波探頭來掃描參考工件(103)；

通過對所述參考工件的所述掃描形成至少一個參考圖像(104)；

形成所述至少一個參考圖像的至少一個負片圖像(105)；

利用所述至少一個圖像和所述負片圖像來創建至少一個指示圖像(106)；

利用數個圖像濾波器來對至少一個指示圖像進行濾波，各個圖像濾波器對除了特定于圖像濾波器的指示等級數據之外的所述指示圖像的所有數據進行濾波(107)；

由所述圖像濾波器形成數個指示等級數據(108)；

利用所述數個指示等級數據來將所述工件分類為被接受或被拒絕(109)。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，分類步驟(109)還被布置為利用數個接受等級和數個拒絕等級來對所述工件進行分類。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，分類步驟(109)還被布置為另選地將所述工件分類為處于接受分類與拒絕分類之間的邊界工件。

4.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，分類步驟(109)包括以下子步驟：

以特定于指示圖像區域的方式利用從所述指示圖像濾波而得的所述數個指示等級數據，使得所述指示圖像具有至少兩個區域，并且所述分類以特定于區域的方式利用所述數個指示等級數據。

5.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括以下步驟：

以對應于所述指示圖像的圖像格式用特定于分類的顏色指示所述分類；

顯示所述圖像格式。

6.一種包括處理器裝置(114)和超聲波探頭的超聲波檢查裝置，其特征在于，所述超聲波探頭包括被配置為執行根據權利要求1所述的方法的掃描步驟的軟件或電路板，并且，所述處理器裝置包括被配置為執行根據權利要求1所述的方法的其他步驟的軟件或電路板。

7.根據權利要求6所述的超聲波檢查裝置，其特征在于，所述軟件或所述電路板還被配置為執行根據權利要求2至5中的任一項所述的方法的步驟。