[發明專利]材料冷卻區域檢測裝置及線材冷卻區域檢測方法

在審

• 申請號: 201680074912.0
• 申請日: 2016-07-12
• 公開（公告）號: CN108431563A
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發明（設計）人: 黃元浩;柳昌佑;黃勛
• 申請（專利權）人: 株式會社POSCO
• 主分類號: G01J5/52
• 分類號: G01J5/52;G01J5/02;G01J5/08;B21B38/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 蔡勝有;譚天

1.一種材料冷卻區域檢測裝置，包括：

測量部，對于在高溫狀態下冷卻并被移送中的材料，沿著所述材料的移送方向連續測量溫度；以及

檢測部，基于在所述測量部測量到的溫度檢測所述材料的冷卻區域，

其中，所述檢測部通過比較在所述測量部測量到的溫度與第一閾值溫度，判斷所述測量部的測量點中是否存在所述材料，并通過比較在所述測量部測量到的溫度與第二閾值溫度，判斷所述測量部的測量點是否為冷卻區域。

2.根據權利要求1所述的材料冷卻區域檢測裝置，其中，所述測量部包括：

第一紅外線輻射溫度計，用于將所述材料的移送路徑設置為測量點來測量所述材料的溫度；以及

第二紅外線輻射溫度計，用于在所述材料的移送路徑上將與所述第一紅外線輻射溫度計的測量點不同的測量點設置為第二測量點來測量所述材料的溫度。

3.根據權利要求2所述的材料冷卻區域檢測裝置，其中，

當所述第一紅外線輻射溫度計的測量溫度與所述第二紅外線輻射溫度計的測量溫度之間的溫差小于預設的溫差時，所述檢測部利用所述第一紅外線輻射溫度計和所述第二紅外線輻射溫度計這兩者的測量溫度來檢測所述材料的冷卻區域，當所述第一紅外線輻射溫度計的測量溫度與所述第二紅外線輻射溫度計的測量溫度之間的溫差大于預設的溫差時，所述檢測部僅利用所述第一紅外線輻射溫度計和所述第二紅外線輻射溫度計的測量溫度中的一個測量溫度來檢測所述材料的冷卻區域。

4.根據權利要求2所述的材料冷卻區域檢測裝置，其中，所述測量部進一步包括：

控制部，用于控制所述第一紅外線輻射溫度計和所述第二紅外線輻射溫度計的操作，

所述控制部基于在所述第一紅外線輻射溫度計和所述第二紅外線輻射溫度計測量到的溫度控制所述第一紅外線輻射溫度計和所述第二紅外線輻射溫度計的測量方向和/或與所述材料之間的距離。

5.根據權利要求4所述的材料冷卻區域檢測裝置，其中，

所述控制部控制所述第一紅外線輻射溫度計和所述第二紅外線輻射溫度計的位置，使得所述材料的移送速度越快，所述第一紅外線輻射溫度計和所述第二紅外線輻射溫度計與所述材料之間的距離越長。

6.根據權利要求2所述的材料冷卻區域檢測裝置，其中，

所述第一紅外線輻射溫度計和所述第二紅外線輻射溫度計的測量方向與所述材料的移送路徑之間的角度均大于0度且小于90度。

7.根據權利要求1所述的材料冷卻區域檢測裝置，其中，

所述第一紅外線輻射溫度計和所述第二紅外線輻射溫度計分別設置在高速切割機的前后，所述高速切割機用于切割移送過程中的所述材料。

8.根據權利要求1所述的材料冷卻區域檢測裝置，其中，

當在所述測量部測量到的溫度高于所述第一閾值溫度及所述第二閾值溫度時，所述檢測部判斷所述測量部的測量點為未冷卻區域，當在所述測量部測量到的溫度低于比所述第一閾值溫度及所述第二閾值溫度低的第三閾值溫度時，所述檢測部判斷所述測量部的測量點為過冷卻區域。

9.根據權利要求1所述的材料冷卻區域檢測裝置，其中，

所述檢測部基于在所述測量部測量到的溫度的變化規律改變所述第二閾值溫度。

10.根據權利要求1所述的材料冷卻區域檢測裝置，其中，

所述測量部以預設的時間間隔測量所述材料的溫度，

所述檢測部利用在所述測量部測量到的溫度的變化斜率推定所述材料的溫度與第二閾值溫度一致的時間，以檢測所述材料的冷卻區域的邊界。

11.根據權利要求1所述的材料冷卻區域檢測裝置，進一步包括：

顯示部，用于顯示所述檢測部的檢測結果。