[發明專利]根據等效地球模型的空間相關來生成地球模型

在審

• 申請號: 201680073593.1
• 申請日: 2016-02-16
• 公開（公告）號: CN108369288A
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發明（設計）人: G·A·威爾遜;B·東德里奇
• 申請（專利權）人: 哈里伯頓能源服務公司
• 主分類號: G01V3/30
• 分類號: G01V3/30;G01V3/38
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 丁曉峰

一種測井系統包括電磁測井工具，所述電磁測井工具收集鉆孔處的地下地層的至少一個測量結果。所述測井系統還包括處理系統，所述處理系統基于所述地下地層的所述至少一個測量結果來生成所述地下地層的多個地球模型。所述處理系統將至少一個第二地球模型投影在所述鉆孔的井眼軌跡上，并且基于選擇的模型的至少一個參數與所述至少一個第二地球模型的對應至少一個參數之間的空間相關來選擇所述多個模型中的模型。

背景技術

在鉆井和測井領域，電阻率測井工具用于提供圍繞地球鉆孔的巖層的電阻率的指示。這種關于電阻率的信息可用于探知諸如烴類的流體的存在或不存在。典型的電磁傳播電阻率測井工具包括至少一個發射天線和沿著工具軸線定位在距發射天線不同距離處的多個接收天線。

發射天線用于在周圍地層中生成電磁場。反過來，地層中的電磁場在每個接收天線中感生電壓。地層的響應被轉換成一組反演參數，所述反演參數隨后被用來估計地層的各向異性特性。

在對鉆孔的測井期間，可以在逐點的基礎上執行反演。在沿著鉆孔的長度(或伸展)的兩個或更多個點(或位置)中的每一者處，執行上述段落中描述的過程。全空間或“零維”或“0D”反演僅考慮單一點處的工具測量而忽略地層非均質性。為了處理地層非均質性，諸如來自地層邊界的圍巖影響，層狀地球或“一維”或“1D”反演考慮了至少來自單一點的工具測量，以找到與那些測量相匹配的層狀地層模型。因此，1D反演可以用于確定地層之間的邊界的位置。

附圖說明

在附圖和以下描述中公開了使用測井測量從兩個或更多個地層模型中選擇地層模型的方法和系統。在附圖中：

圖1示出說明性隨鉆測井(LWD)環境；

圖2是示出根據一個實施方案的電阻率反演的框圖；

圖3是示出從多個生成的地層模型中選擇地層模型的框圖；

圖4示出說明性LWD環境；

圖5示出了其中基于空間相關的程度來選擇多個等效地球模型中的一個的說明性場景；以及

圖6是示出基于空間相關的程度的說明性選擇方法的流程圖。

然而，應理解，在附圖和詳細描述中給出的具體實施方案并不限制本公開。相反，它們為普通技術人員辨識與給出的實施方案中的一個或多個一起涵蓋在所附權利要求書的范圍內的替代形式、等效物和修改提供了基礎。

具體實施方式

本文中公開了用于定量解釋隨鉆測井(LWD)數據(例如，電阻率LWD數據)的方法和系統。特定實施方案涉及從兩個或更多個生成的地層模型中選擇地層模型。在至少一些實施方案中，一種方法包括基于鉆孔處的地下地層的至少一個測量結果來生成地下地層的多個地球模型。所述方法還包括將至少一個第二地球模型投影在鉆孔的井眼軌跡上。所述方法進一步包括基于所選擇的模型的至少一個參數與所投影的至少一個第二地球模型的對應至少一個參數之間的空間相關來選擇多個地球模型中的模型。

相關系統包括電磁測井工具，所述電磁測井工具收集鉆孔處的地下地層的至少一個測量結果。所述測井系統還包括處理系統，所述處理系統基于地下地層的至少一個測量結果來生成地下地層的多個地球模型。所述處理系統將至少一個第二地球模型投影在鉆孔的井眼軌跡上，并且基于所選擇的模型的至少一個參數與所投影的至少一個第二地球模型的對應至少一個參數之間的空間相關來選擇多個地球模型中的模型。