[發(fā)明專利]用于使用3D角道集檢測地下特征的系統(tǒng)和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201680055067.2
• 申請日: 2016-07-18
• 公開（公告）號: CN108139497B
• 公開（公告）日: 2020-02-14
• 發(fā)明（設計）人: W·A·施內德
• 申請（專利權）人: 費爾菲爾德工業(yè)公司
• 主分類號: G01V1/24
• 分類號: G01V1/24
• 代理公司: 11270 北京派特恩知識產權代理有限公司
• 代理人: 康艷青;姚開麗

1.一種經由地震勘測來檢測地下特征的方法，該方法管理圖像偽像和資源利用，包括：

由數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的一個或多個處理器獲得由在地面上彼此分開至少閾值距離的多個地震數(shù)據(jù)采集單元檢測到的地震數(shù)據(jù)，所述地震數(shù)據(jù)包括對于所述多個地震數(shù)據(jù)采集單元中的每一個的圖像跡線數(shù)據(jù)；

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)從存儲器中的分箱函數(shù)數(shù)據(jù)結構中提取采樣間隔和參數(shù)；

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)基于分開所述多個地震數(shù)據(jù)采集單元的閾值距離、利用所述采樣間隔和參數(shù)配置帶限分箱函數(shù)；

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)將所述帶限分箱函數(shù)應用于所述圖像跡線數(shù)據(jù)的多個圖像跡線，以生成角道集網(wǎng)格中的箱的帶限角道集值；

基于所述角道集網(wǎng)格由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)生成圖像；和

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過顯示設備提供所述圖像進行顯示，所述圖像指示地下巖性地層和碳氫化合物沉積物中的至少一個。

2.如權利要求1所述的方法，包括：

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)確定與所述圖像跡線數(shù)據(jù)的每個圖像跡線的每個深度樣本相關聯(lián)的反射角和反射方位角；和

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)將所述帶限分箱函數(shù)應用于與每個圖像跡線的每個深度樣本相關聯(lián)的反射角和反射方位角，以生成多個帶限分箱角道集。

3.如權利要求1所述的方法，包括：

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)提供以所述采樣間隔均勻采樣的角道集網(wǎng)格，所述采樣間隔包括反射角度間隔和方位角間隔；和

通過在所述角道集網(wǎng)格中的每個位置處放置默認值來初始化所述角道集網(wǎng)格。

4.如權利要求1所述的方法，包括：

經由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的用戶接口接收不同于所述采樣間隔的第二采樣間隔；

以所述第二采樣間隔配置帶限分箱函數(shù)；以及

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)基于以所述第二采樣間隔配置的所述帶限分箱函數(shù)來生成第二圖像。

5.如權利要求1所述的方法，其中所述地面在水面以下。

6.如權利要求1所述的方法，包括：

通過遠程操作的運載工具將所述多個地震數(shù)據(jù)采集單元定位在地面上由多行地震數(shù)據(jù)采集單元所限定的陣列中。

7.如權利要求1所述的方法，其中，所述閾值距離在400米至1100米之間。

8.如權利要求1所述的方法，包括：

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)產生方向向量；和

應用斯涅爾定律將方向向量與地下地質傾角模型組合，以產生用于生成帶限角道集的反射角和反射方位角。

9.如權利要求1所述的方法，還包括：

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)獲得由所述多個地震數(shù)據(jù)采集單元檢測到的場跡線數(shù)據(jù)；和

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)利用地震偏移對所述場跡線數(shù)據(jù)成像以產生所述圖像跡線數(shù)據(jù)。

10.如權利要求1所述的方法，包括：

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)將所述帶限分箱函數(shù)應用于所述圖像跡線數(shù)據(jù)的多個圖像跡線，以生成在一組(x，y)圖像位置處的帶限角道集。

11.如權利要求1所述的方法，包括：

經由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的用戶接口接收與所述采樣間隔和所述參數(shù)不同的采樣間隔和參數(shù)的一個或多個另外的集合；

用所述一個或多個另外的集合來配置所述帶限分箱函數(shù)；和

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)根據(jù)所述采樣間隔和參數(shù)的一個或多個另外的集合中的每個集合生成另外的角道集；

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過選擇所述一個或多個另外的集合中的與使用所述采樣間隔和參數(shù)產生的第一角道集相比產生具有較少偽像的第二角道集的第二采樣間隔和第二參數(shù)來調節(jié)所述帶限分箱函數(shù)；

由所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)基于使用經調節(jié)的帶限分箱函數(shù)產生的所述第二角道集來生成第二圖像。