[發明專利]混合模式深度檢測

有效

• 申請號: 201680051716.1
• 申請日: 2016-08-03
• 公開（公告）號: CN108027441B
• 公開（公告）日: 2021-10-26
• 發明（設計）人: P·瑟凡·維斯瓦納坦
• 申請（專利權）人: 微視公司
• 主分類號: G01S17/894
• 分類號: G01S17/894;G01S7/481;G01S17/08
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 魯山;孫志湧

1.一種MEMS激光束顯示器，包括：

基于MEMS的投影儀，其包括MEMS掃描引擎，所述MEMS掃描引擎被配置為用于將圖像投影到所述MEMS激光束顯示器的視場中的目標之上；

飛行時間TOF深度檢測器，所述飛行時間TOF深度檢測器被配置為用于接收由所述投影儀發射的光束從所述目標的反射，以在第一深度檢測模式下經由飛行時間計算來確定與所述視場內的所述目標的距離，其中，所述飛行時間TOF深度檢測器確定所述目標的粗略深度數據；

深度處理電路，所述深度處理電路被配置為用于從所述粗略深度數據來識別所述視場內的一個或更多個結構化光區域，其中，所述一個或更多個結構化光區域僅包括所述視場的一部分，并且其中，至少一個結構化光圖案被投影在所識別的一個或更多個結構化光區域中；

結構化光深度檢測器，所述結構化光深度檢測器被配置為用于檢測所述至少一個結構化光圖案從所述目標的反射，以在第二深度檢測模式下確定與所述目標的距離，其中，所述結構化光深度檢測器確定在所識別的一個或更多個結構化光區域中的所述目標的精密深度數據；并且

其中，所述深度處理電路還被配置為用于使用所述粗略深度數據和所述精密深度數據的組合來生成所述目標的復合三維3D圖像。

2.根據權利要求1所述的MEMS激光束顯示器，其中，

所述深度處理電路還被配置為用于經由所述粗略深度數據來識別所述目標的姿勢區域，并且用于使用所述精密深度數據來識別所述姿勢區域中的姿勢。

3.根據權利要求1所述的MEMS激光束顯示器，其中，

所述MEMS掃描引擎包括MEMS掃描鏡、或納米級掃描儀、或它們的組合。

4.根據權利要求1所述的MEMS激光束顯示器，其中，

所述飛行時間TOF深度檢測器包括光電檢測器，以用于檢測所接收到的從所述目標的所述光束的反射。

5.根據權利要求1所述的MEMS激光束顯示器，其中，

所述結構化光深度檢測器包括相機，以用于檢測所述至少一個結構化光圖案的反射，并且用于經由對所檢測到的所述至少一個結構化光圖案的反射的距離計算來確定與所述目標的距離。

6.根據權利要求1所述的MEMS激光束顯示器，還包括：

致動器，以用于接收來自用戶的輸入，以將由所述投影儀所發射的一個或更多個結構化光圖案引導向所述目標的選定區域。

7.根據權利要求1所述的MEMS激光束顯示器，其中，

所述深度處理電路還被配置為用于：從由所述飛行時間TOF深度檢測器所獲得的所述粗略深度數據獲得所述目標的骨架模型，并且用于使用所述骨架模型來識別所述一個或更多個結構化光區域。

8.根據權利要求1所述的MEMS激光束顯示器，其中，

所述光束包括紅外IR光束，并且

所述飛行時間TOF深度檢測器包括紅外IR光電檢測器，以檢測所述紅外IR光束從所述目標的反射。

9.根據權利要求1所述的MEMS激光束顯示器，其中，

所述至少一個結構化光圖案包括在所述目標上的可見結構化光圖案或不可見結構化光圖案或它們的組合，并且

所述結構化光深度檢測器包括相機，以檢測從所述目標反射的所述可見結構化光圖案或所述不可見結構化光圖案或它們的組合。