[實用新型]一種V割殘厚測試儀

有效

• 申請號: 201621122402.X
• 申請日: 2016-10-14
• 公開（公告）號: CN206160985U
• 公開（公告）日: 2017-05-10
• 發明（設計）人: 何雪明
• 申請（專利權）人: 太倉市何氏電路板有限公司
• 主分類號: G01B21/08
• 分類號: G01B21/08
• 代理公司: 蘇州市方略專利代理事務所(普通合伙)32267
• 代理人: 馬廣旭

1.一種V割殘厚測試儀，其特征在于：包括底座(1)和固定架(2)，所述固定架(2)設置在底座(1)上方，所述固定架(2)上方設有把手(3)，固定架(2)底部設有工具盒(4)，工具盒(4)中間設有把手(5)，所述工具盒(4)上方設有測試底板(6)、測量頭(7)、手柄(8)、數顯表(9)，所述測量頭(7)上設有上刀片(10)，所述測試底板(6)上設有與上刀片(10)位置對應的方形孔(11)，所述方形孔(11)中設有與上刀片(10)對應設置下刀片(12)，所述數顯表(9)上設有顯示屏(13)、歸零按鈕(14)、開關按鈕(15)和公英轉換按鈕(16)，所述數顯表(9)與測量頭(7)中間設有伸縮柱(17)，所述伸縮柱(17)外側上套設有彈簧(18)，所述測試底板(6)兩側分別設有支撐板(19)，所述支撐板(19)通過立柱(20)與底座（1）連接，支撐板（19）以立柱（20）為中心可水平旋轉90°。

2.根據權利要求1所述的一種V割殘厚測試儀，其特征在于：所述上刀片(10)左右兩側分別設置壓塊(21)。

3.根據權利要求1所述的一種V割殘厚測試儀，其特征在于：所述支撐板(19)與測試底板(6)的高度相同，所述支撐板(19)的長度小于測試底板(6)的長度。

4.根據權利要求1所述的一種V割殘厚測試儀，其特征在于：所述固定架（2）前端設有凹槽，所述凹槽的位置與方形孔（11）位置相對應。

5.根據權利要求1所述的一種V割殘厚測試儀，其特征在于：所述上刀片（10）和下刀片（12）均為高速鋼圓形刀頭。