[實用新型]基質輔助激光解析電離飛行時間質譜儀XY平臺控制系統有效
| 申請號： | 201620496674.X | 申請日： | 2016-05-27 |
| 公開（公告）號： | CN205787746U | 公開（公告）日： | 2016-12-07 |
| 發明（設計）人： | 王曉錦;蔡克亞;郭光輝;李向廣;李康康;王家杰;張瑞峰;劉聰;王超;劉曉莉;易玲;劉偉偉;李傳華;吳學煒 | 申請（專利權）人： | 安圖實驗儀器（鄭州）有限公司 |
| 主分類號： | G05B19/042 | 分類號： | G05B19/042;G01N27/66 |
| 代理公司： | 鄭州異開專利事務所(普通合伙)41114 | 代理人： | 韓華 |
| 地址： | 450016 河南省*** | 國省代碼： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基質 輔助 激光 解析 電離 飛行 時間 質譜儀 xy 平臺 控制系統 | ||
【權利要求書】：
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