[實用新型]一種用于不同厚度光學元件檢測夾持裝置

有效

• 申請號: 201620010849.1
• 申請日: 2016-01-07
• 公開（公告）號: CN206296818U
• 公開（公告）日: 2017-07-04
• 發明（設計）人: 鄭芳蘭;姜宏振;劉勇;李東;劉旭;劉斌;陳竹;陳波;楊曉瑜
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院激光聚變研究中心
• 主分類號: B25B11/00
• 分類號: B25B11/00
• 代理公司: 成都弘毅天承知識產權代理有限公司51230
• 代理人: 劉東

1.一種用于不同厚度光學元件檢測夾持裝置，其特征在于，包括帶有元件容納腔(5)的夾塊(1)、輔助夾片(2)、螺桿(3)和螺孔(6)，所述元件容納腔(5)的腔壁上設有螺孔(6)，所述螺桿(3)通過螺孔(6)貫穿元件容納腔(5)的腔壁，所述螺桿(3)朝向元件容納腔(5)的一端設有輔助夾片(2)。

2.如權利要求1所述一種用于不同厚度光學元件檢測夾持裝置，其特征在，所述夾塊(1)底部設有卡槽(4)。

3.權利要求1所述一種用于不同厚度光學元件檢測夾持裝置，其特征在，所述螺桿(3)的另一端設有螺桿頭(3.1)，通過轉動螺桿頭(3.1)調整螺桿(3)的進退，從而帶動輔助夾片(2)的進退來調節該裝置的夾持區間。

4.權利要求1所述一種用于不同厚度光學元件檢測夾持裝置，其特征在，所述元件容納腔(5)的兩側都設有螺孔(6)，各螺孔(6)分別配設有輔助夾片(2)和螺桿(3)。