[發明專利]主板測試設備和方法在審
| 申請號: | 201611271074.4 | 申請日: | 2016-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN106657990A | 公開(公告)日: | 2017-05-10 |
| 發明(設計)人: | 蔡偉峰;朱生林;羅丹 | 申請(專利權)人: | 深圳TCL數字技術有限公司 |
| 主分類號: | H04N17/00 | 分類號: | H04N17/00 |
| 代理公司: | 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所44287 | 代理人: | 胡海國 |
| 地址: | 518054 廣東省深圳市前海深港合作區前灣一路鯉魚門街一號前*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 主板 測試 設備 方法 | ||
技術領域
本發明涉及主板測試的技術領域,尤其涉及一種主板測試設備和方法。
背景技術
隨著4K技術的快速發展,4K電視隨之產生。4K電視的物理分辨率為3840×2160,分辨率是2K電視的4倍,在此分辨率下,觀眾將可以看清畫面中的每一個細節,每一個特寫,得到一種身臨其境的觀感體驗。4K電視帶來的觀感體驗使得各個生產廠家對4K電視的產量逐年增加。
對于電視生產廠家來說,工廠產線上對電視出產前的各種測試也是必不可少的,但產線測試有時候會帶來一定的損耗,甚至在一項技術剛出來的時候由于測試方面不成熟不規范,給工廠帶來的損耗以及人工增加費用也是很大的一項支出,而4K技術在這兩年發展的很迅速,同時出廠前的測試也是必不可少的。
目前,現有VB1線的測試方式,每次都需要對主板端口進行拔插,而VB1線屬于高速傳輸的的信號線,工藝精細,經常性的拔插很容易造成損耗,信號也容易受到靜電干擾,且測試效率不高,同時對工廠自動化操作帶來一定的阻礙。因此現有VB1線的測試方式存在材料損耗率較高、測試效率較低,信號容易受到干擾的問題。
發明內容
本發明的主要目的在于提出一種主板測試設備和方法,旨在解決現有VB1線的測試方式材料損耗率較高、測試效率較低,信號容易受到干擾的技術問題。
為實現上述目的,本發明提供的一種主板測試設備,所述主板測試設備包括:圖像采集模塊、計算機和轉接模塊,其中
所述轉接模塊包括第一接插接口,所述第一接插接口實現與待測主板的第二接插接口之間連接,且所述第一接插接口將待測主板基于第二接插接口傳輸的測試信號轉接至轉接模塊,所述轉接模塊用于將轉接獲得的測試信號傳輸至圖像采集模塊;
所述圖像采集模塊的輸入端與轉接模塊連接、輸出端與計算機連接,且所述圖像采集模塊用于對所述轉接模塊傳輸的所述測試信號進行處理,并將處理后的測試信號輸出至計算機;
所述計算機用于對接收到的已處理測試信號進行合格驗證并輸出驗證結果。
可選地,所述轉接模塊、所述圖像采集模塊和所述計算機均包括VB1接口,所述圖像采集模塊通過VBI接口分別與所述轉接模塊和所述計算機連接。
可選地,所述轉接模塊還包括待測主板供電單元,所述待測主板供電單元與待測主板的供電接插針連接,用于向待測主板供電。
可選地,所述計算機通過檢測線與轉接模塊和圖像采集模塊連接,所述計算機還用于檢測圖像采集模塊與轉接模塊之間的連接狀態,以及圖像采集模塊與計算機之間的連接狀態。
可選地,所述轉接模塊還包括顯示單元,所述顯示單元用于顯示所述轉接模塊與待測主板的連接狀態信息。
此外,為實現上述目的,本發明還提供一種主板測試方法,所述主板測試方法包括:
所述主板測試方法包括:
待測主板通過接插接口與轉接模塊連接后,所述待測主板上電輸出測試信號,并將所述測試信號傳輸至所述轉接模塊;
所述轉接模塊將所述測試信號轉接至圖像采集模塊;
所述圖像采集模塊對所述測試信號進行處理,并將處理后的測試信號傳輸至計算機;
所述計算機對接收到的已處理測試信號進行合格驗證并輸出驗證結果。可選地,所述計算機對接收到的已處理測試信號進行合格驗證并顯示驗證結果的步驟包括:
判斷已處理測試信號是否與預設信號相同;
若已處理測試信號與預設信號相同,則判定測試后的主板合格,并顯示合格信息;
若已處理測試信號與預設信號不同,則判定測試后的主板不合格,并顯示不合格信息。
可選地,所述若已處理測試信號與預設信號不同,則判定所述測試信號不合格,并顯示不合格信息的步驟之后,所述主板測試方法還包括:
計算已處理測試信號與預設信號的相似度;
在所述相似度大于或等于預設相似度時,以不同顏色線條繪制并顯示已處理測試信號和預設信號。
可選地,所述主板測試方法還包括:
所述計算機以間隔預設時間檢測所述轉接模塊與所述圖像采集模塊之間的連接狀態,以及所述計算機與所述圖像采集模塊之間的連接狀態;
顯示檢測獲得的連接狀態信息。
可選地,所述主板測試方法還包括:
所述轉接模塊檢測待測主板中的接插針與所述轉接模塊中的接插針床的連接狀態;
顯示檢測獲得的連接狀態信息。
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