[發明專利]分子篩樣品的高通量制備系統及方法

在審

• 申請號: 201611269955.2
• 申請日: 2016-12-30
• 公開（公告）號: CN108267346A
• 公開（公告）日: 2018-07-10
• 發明（設計）人: 羅名東;徐勇華
• 申請（專利權）人: 亞申科技研發中心（上海）有限公司
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28;C01B39/02;C01B39/54;C01B37/08;C01B39/00;C01B37/00
• 代理公司: 上海晨皓知識產權代理事務所(普通合伙) 31260
• 代理人: 成麗杰

1.一種可用于分子篩樣品篩選的高通量分子篩樣品制備系統，其特征在于：其包括有集中式陳化-晶化系統及離心分離系統，其中集中式陳化-晶化系統包括有2個或以上數量的反應腔，這些反應腔被分為或放置于至少兩個反應模塊，每一反應模塊包括至少一個反應腔，系統為每一個反應模塊提供獨立于其他反應模塊的控制。

2.如權利要求1所述的高通量分子篩樣品制備系統，其特征在于：其中集中式陳化-晶化系統對其每一反應模塊的控制包括壓力控制、溫度控制、原料填入/取樣控制、自動攪拌及水熱/溶劑熱合成控制等等中的至少一種。

3.如權利要求1所述的高通量分子篩樣品制備系統，其特征在于：其中所述反應腔可以運動，反應模塊設置有壓力、溫度調節裝置，壓力調整范圍在0-10兆帕之間或是1-7兆帕之間，溫度范圍在0-500攝氏度之間。

4.一種可用于分子篩樣品篩選的高通量分子篩樣品制備系統，其特征在于：其包括有獨立式晶化系統及清洗過濾系統；其中獨立式晶化系統包括有若干獨立控制的反應器，每一反應器內的分子篩樣品的制備條件獨立于其他反應器內的分子篩樣品的制備條件，清洗過濾系統可提供對初步形成的分子篩樣品進行清洗、過濾及干燥處理，從而完成分子篩樣品的制備。

5.如權利要求4所述的高通量分子篩樣品制備系統，其特征在于：其中獨立式晶化系統可對每一反應器提供的獨立控制包括壓力控制、溫度和時間的控制、獨立攪拌的控制、實時加料或取樣的控制、實時檢測的控制中的至少一種。

6.如權利要求4所述的高通量分子篩樣品制備系統，其特征在于：其中所述反應器設置攪拌、檢測裝置，反應模塊設置有壓力、溫度調節裝置，壓力調整范圍在0-10兆帕之間或是0-6兆帕之間，溫度范圍在0-500攝氏度之間。

7.如權利要求1或4所述的高通量分子篩樣品制備系統，其特征在于：其還進一步包括樣品分析系統，其中樣品分析系統為X射線衍射系統或是X-射線粉末衍射儀中的一種。

8.如權利要求1或4所述的高通量分子篩樣品制備系統，其特征在于：其還進一步包括數據處理系統，其可提供數據處理、相圖和模型分析。

9.一種高通量的分子篩樣品研發平臺的工作流程，其包括有分子篩樣品的設計、原料準備、樣品庫制備、分子篩樣品合成、樣品分析和數據分析六個組成模塊。

10.如權利要求9所述的高通量分子篩樣品研發平臺的工作流程，其特征在于：其中在分子篩樣品合成模塊，會采用高通量技術，進行多級篩選；其中所述多級篩選包括初級篩選、二級篩選、三級篩選、中試放大篩選；其中初級篩選所選用的篩選系統為如權利要求1和或4所述的高通量分子篩樣品制備系統。