[發明專利]電壓校準方法、磁共振成像方法及系統

有效

• 申請號: 201611262519.2
• 申請日: 2016-12-30
• 公開（公告）號: CN106597335B
• 公開（公告）日: 2019-04-05
• 發明（設計）人: 蔣瑞瑞
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技有限公司
• 主分類號: G01R33/48
• 分類號: G01R33/48;G01R33/58
• 代理公司: 北京匯思誠業知識產權代理有限公司 11444
• 代理人: 王剛;龔敏

本發明實施例提供了一種電壓校準方法、磁共振成像方法及系統。一方面，本發明實施例通過根據掃描序列，在感興趣區域的視場范圍選定掃描層面；在選定掃描層面上，分至少兩次分別以不同初始電壓值激勵射頻脈沖，采集掃描序列每次獲得的FID信號和STE信號；基于采集的信號，確定各初始電壓值對應的感興趣區域內的翻轉角均值；利用各初始電壓值及對應的翻轉角均值，通過線性擬合獲取目標翻轉角對應的參考電壓值，減小了射頻場分布不均勻和整個掃描圖像翻轉角的局部差異對感興趣區域電壓校準的影響，提高了感興趣區域的電壓校準精度，減小了對MRI圖像中感興趣區域的均勻性和對比度的影響，從而提高了MRI圖像中感興趣區域的圖像質量。

【技術領域】

本方案涉及磁共振成像技術領域，尤其涉及一種電壓校準方法、磁共振成像方法及系統。

【背景技術】

當前，MRI(Magnetic Resonance Imaging，磁共振成像)系統在醫學領域應用廣泛。利用MRI系統獲得的人體組織的圖像信息，可以輔助醫生進行病情診斷，也可以供醫學研究使用。

MRI系統中的射頻系統會在射頻發射電壓的激勵下發出射頻脈沖，在射頻脈沖的作用下，人體組織的宏觀磁化矢量將偏離平衡狀態，其偏離的角度即為翻轉角。為了使射頻系統發射的射頻脈沖達到需要的翻轉角，需要在掃描前對射頻發射的幅值進行校準。由于射頻發射的幅值與射頻發射電壓具有線性關系，因此，對射頻發射的幅值的校準可以通過對射頻發射電壓的校準來實現。

現有技術中，對射頻發射電壓的校準方案是：給定初始電壓值，以該初始電壓值作為射頻發射電壓發射射頻，測量該初始電壓值對應的翻轉角，然后基于射頻發射電壓值與翻轉角之間的線性關系，推算目標翻轉角對應的參考電壓值。

上述電壓校準方案適用于射頻場(即B1場)分布均勻的應用場景中。而且，與射頻發射電壓值滿足線性關系的翻轉角具有一定的角度范圍，如果初始電壓值對應的翻轉角超出該角度范圍，測量就會出現錯誤，從而導致校準失敗。在分布均勻的射頻場中，掃描的整個橫斷面(對應整個掃描圖像)中翻轉角是相同的，因此測量到的單個翻轉角代表整個橫斷面中翻轉角的平均值。

而高場的射頻場分布不均勻，導致高場中射頻發射電壓值與翻轉角之間不滿足線性關系，因此上述電壓校準方案不適用于高場MRI的射頻功率校準。

除此之外，高場MRI的射頻功率校準還存在以下問題：

由于射頻場分布不均勻，并且測量的目標組織分布也不均勻，掃描的整個橫斷面中翻轉角是不同的，導致測量到的單個翻轉角不能代表整個橫斷面中翻轉角的平均值；

整個橫斷面中翻轉角的平均值與橫斷面中待測量的具體目標組織所處區域(對應整個掃描圖像中的感興趣區域)的翻轉角平均值不同，如果根據整個橫斷面中翻轉角的平均值對射頻發射電壓進行校準，則不能滿足感興趣區域的局部校準需求。

綜上所述，現有技術中對射頻發射電壓的校準方案不適用于高場MRI中射頻發射電壓的校準，當利用現有技術中對射頻發射電壓的校準方案對高場MRI中射頻發射電壓進行校準時，校準精度很低，對MRI圖像的均勻性和對比度影響較大，從而導致MRI圖像的質量較差。

【發明內容】

有鑒于此，本方案實施例提供了一種電壓校準方法、磁共振成像方法及系統，用以解決當利用現有技術中對射頻發射電壓的校準方案對高場MRI中射頻發射電壓進行校準時，校準精度低，對MRI圖像的均勻性和對比度影響大，導致MRI圖像的質量較差的問題。

第一方面，本方案實施例提供一種電壓校準方法，應用于磁共振成像系統中的射頻系統的射頻發射電壓的校準，所述方法包括：

根據掃描序列，在感興趣區域的視場范圍選定掃描層面；

在選定掃描層面上，分至少兩次分別以不同初始電壓值作為射頻發射電壓值激勵射頻脈沖，采集所述掃描序列每次獲得的自由感應衰減FID信號和受激回波STE信號；