[發明專利]對位裝置和對位方法

有效

• 申請號: 201611257673.0
• 申請日: 2016-12-30
• 公開（公告）號: CN108269282B
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: 范綱倫;孟憲明;孫武雄;廖祝湘;張基霖
• 申請（專利權）人: 技嘉科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/70
• 分類號: G06T7/70;G01N21/956
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 梁揮;祁建國

1.一種對位裝置，其特征在于，包括：

一儲存裝置，儲存多組預設參考點信息；

一影像擷取裝置，擷取多個影像，其中每一所述影像分別對應一待測電路板的不同區塊以及所述多組預設參考點信息的一組；以及

一處理器，耦接至所述儲存裝置和所述影像擷取裝置，且所述處理器，在每一所述影像中選取一第一候選參考點，并根據所述第一候選參考點以及所述預設參考點信息，找尋匹配所述第一候選參考點的全部其他候選參考點，以產生對應每一所述影像的一對位信息；

其中，所述預設參考點信息包含多個預設參考點的坐標信息，以及所述多個預設參考點彼此的向量和角度關系，且其中所述多個預設參考點分別對應所述候選參考點，且其中所述處理器根據所述第一候選參考點以及所述向量和角度關系，找尋匹配所述第一候選參考點的所述其他候選參考點。

2.根據權利要求1所述的對位裝置，其特征在于，所述處理器根據一霍夫轉換方法，在每一所述影像中找到多個參考點，且根據所述預設參考點信息，從所述多個參考點選取所述第一候選參考點。

3.根據權利要求2所述的對位裝置，其特征在于，所述處理器根據所述預設參考點信息，從所述多個參考點中選取包含在每一所述影像的一特定區域的一第一部分的多個參考點，以及從所述第一部分的多個參考點選取所述第一候選參考點，其中所述其他候選參考點不包括于所述第一部分的多個參考點中。

4.根據權利要求3所述的對位裝置，其特征在于，當所述第一候選參考點與所述其他候選參考點的一者匹配失敗時，所述處理器從所述第一部分的多個參考點選取一新的第一候選參考點，并找尋匹配所述新的第一候選參考點的其他候選參考點。

5.根據權利要求3所述的對位裝置，其特征在于，當所述第一候選參考點與全部所述其他候選參考點匹配成功，所述處理器根據所述預設參考點信息以及所述第一候選參考點和所述其他候選參考點，產生對應每一所述影像的所述對位信息，并將所述對位信息儲存在所述儲存裝置。

6.根據權利要求1-5任意一項所述的對位裝置，其特征在于，所述儲存裝置更儲存一坐標文件信息，其中所述坐標文件信息包含所述待測電路板上的多個元件對應的多個坐標。

7.一種對位方法，其特征在于，包括：

擷取多個影像，其中每一所述影像分別對應一待測電路板的不同區塊；

在每一所述影像中，選取一第一候選參考點；

根據所述第一候選參考點以及預先儲存的預設參考點信息，找尋匹配所述第一候選參考點的全部其他候選參考點，以產生對應每一所述影像的一對位信息，其中所述預設參考點信息包含多個預設參考點的坐標信息，以及所述多個預設參考點彼此的向量和角度關系，且其中所述多個預設參考點分別對應所述候選參考點；以及

根據所述第一候選參考點以及所述向量和角度關系，找尋是否有匹配所述第一候選參考點的所述其他候選參考點。

8.根據權利要求7所述的對位方法，其特征在于，更包括：

根據一霍夫轉換方法，在每一所述影像中找到多個參考點，且根據所述預設參考點信息，從所述多個參考點選取所述第一候選參考點。

9.根據權利要求8所述的對位方法，其特征在于，更包括：

根據所述預設參考點信息，從所述多個參考點中選取包含在每一所述影像的一特定區域的一第一部分的多個參考點，以及從所述第一部分的多個參考點選取所述第一候選參考點，其中所述其他候選參考點不包括于所述第一部分的多個參考點中。

10.根據權利要求9所述的對位方法，其特征在于，更包括：

當所述第一候選參考點與所述其他候選參考點的一者匹配失敗時，從所述第一部分的多個參考點選取一新的第一候選參考點；以及

找尋匹配所述新的第一候選參考點的其他候選參考點。