[發明專利]一種Schwarzschild物鏡焦平面定位裝置及定位方法有效
| 申請號: | 201611240849.1 | 申請日: | 2016-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN106769883B | 公開(公告)日: | 2019-06-11 |
| 發明(設計)人: | 李文斌;徐海釗;張哲;王占山 | 申請(專利權)人: | 同濟大學 |
| 主分類號: | G01N21/17 | 分類號: | G01N21/17;G01N21/01 |
| 代理公司: | 上海科盛知識產權代理有限公司 31225 | 代理人: | 翁惠瑜 |
| 地址: | 200092 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 真空連接管 探測組件 樣品移動 物鏡 定位裝置 反射組件 焦平面 鋁薄膜 激光等離子體光源 聚焦 定位精度高 背光照明 成像信號 輻照損傷 實驗效率 樣品成像 光路 反射 計算機 | ||
1.一種Schwarzschild物鏡焦平面定位方法,該定位方法基于一定位裝置實現,所述定位裝置安裝于極紫外輻射損傷實驗平臺上,所述極紫外輻射損傷實驗平臺包括主筒腔體(18)、靶腔腔體(19)、設置于靶腔腔體(19)內的物理靶材(2)、通過法蘭(3)連接所述主筒腔體(18)和靶腔腔體(19)的真空連接管(20)以及真空泵,所述Schwarzschild物鏡(11)設置于主筒腔體(18)內,其特征在于,所述定位裝置包括:
LED照明組件,設置于主筒腔體(18)內,產生LED光并聚焦;
樣品移動組件,設置于LED照明組件和Schwarzschild物鏡(11)之間;
鋁薄膜樣品(14),固定于樣品移動組件上,用于承受激光等離子體光源聚焦輻照損傷和LED光背光照明;
反射組件,與真空連接管(20)連接,并插入真空連接管(20)內,實現對Schwarzschild物鏡(11)反向放大成像光路的900 偏折;
探測組件,與真空連接管(20)連接,用于根據所述反射組件反射的光路進行鋁薄膜樣品(14)成像,確定Schwarzschild物鏡(11)的焦平面,所述探測組件和反射組件位于真空連接管(20)的兩側;
計算機(17),分別連接樣品移動組件和探測組件,控制樣品移動組件的運動,并接收探測組件的成像信號;
所述反射組件包括螺旋式直線導入器(6)和平面反射鏡(7),所述螺旋式直線導入器(6)通過法蘭(3)和無氧銅墊圈(5)與真空連接管(20)連接,所述平面反射鏡(7)連接于螺旋式直線導入器(6)末端,對Schwarzschild物鏡(11)反向放大成像光路進行900 偏折;
所述探測組件包括石英玻璃窗口(8)和CCD探測器(9),所述石英玻璃窗口(8)通過無氧銅墊圈(5)與真空連接管(20)連接,所述CCD探測器(9)對準石英玻璃窗口(8)、設置于真空連接管(20)外,且在CCD探測器(9)工作時,CCD探測器(9)到平面反射鏡(7)中心的光程和平面反射鏡(7)中心到物理靶材(2)表面的光程相等;
所述定位方法包括以下步驟:
1)旋轉螺旋式直線導入器(6),移動平面反射鏡(7)至真空連接管(20)的中心位置;
2)設置CCD探測器(9)的位置,使得CCD探測器(9)到平面反射鏡(7)中心的光程和平面反射鏡(7)中心到物理靶材表面的光程相等;
3)將做有針孔標記點的鋁薄膜樣品(14)放置于樣品移動組件上,計算機(17)控制樣品移動組件移動,使LED照明組件的光聚焦到鋁薄膜樣品(14)表面針孔標記點位置;
4)計算機(17)控制樣品移動組件沿著Schwarzschild物鏡(11)的光軸方向移動,使CCD探測器(9)探測到經Schwarzschild物鏡(11)放大以及平面反射鏡(7)反射后的鋁薄膜樣品(14)表面針孔標記點清晰成像,將此時鋁薄膜樣品(14)所在的平面初步確定為Schwarzschild物鏡焦平面;
5)旋轉螺旋式直線導入器(6)將平面反射鏡(7)移出真空連接管(20)的中心位置,使主筒腔體(18)和靶腔腔體(19)處于真空狀態,關閉LED照明組件;
6)激光(1)輻照物理靶材(2)產生等離子體光,計算機(17)控制樣品移動組件移動,利用Schwarzschild物鏡(11)將等離子體光聚焦到鋁薄膜樣品(14)表面,使鋁薄膜樣品(14)僅在表面產生等離子體光輻照損傷,且沿Schwarzschild物鏡(11)不同焦深位置對鋁薄膜樣品(14)的不同位置處進行激光等離子體光源輻照損傷實驗;
7)再次旋轉螺旋式直線導入器(6),移動平面反射鏡(7)至真空連接管(20)的中心位置,打開LED照明組件,使LED照明組件的光聚焦到鋁薄膜樣品(14)表面激光等離子體光源輻照損傷位置,利用Schwarzschild物鏡(11)對鋁薄膜樣品(14)表面損傷進行反向放大成像;
8)CCD探測器(9)探測鋁薄膜樣品(14)表面損傷形貌像傳送給計算機(17),計算機(17)根據損傷光斑光強度大小隨位置的變化趨勢對步驟4)中初步確定Schwarzschild物鏡焦平面進行調整,確定Schwarzschild物鏡焦平面最終位置。
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