[發(fā)明專利]電路板測試裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611236778.8 | 申請日: | 2016-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN108241116A | 公開(公告)日: | 2018-07-03 |
| 發(fā)明(設計)人: | 林升彥 | 申請(專利權(quán))人: | 南寧富桂精密工業(yè)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市賽恩倍吉知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44334 | 代理人: | 鄭杏芳 |
| 地址: | 530007 廣西壯族自治區(qū)南寧市高*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 背板 測試單元 底框 電路板測試裝置 邊框 待測電路板 對稱設置 安裝件 電路板 插接裝置 垂直連接 滑動連接 可翻轉(zhuǎn) 一站式 兩組 轉(zhuǎn)運 測試 | ||
一種電路板測試裝置,包括機架及安裝于所述機架上的測試單元和控制單元,所述機架包括用于安裝所述測試單元的底框、垂直連接于所述底框一側(cè)的邊框及固定于所述邊框內(nèi)的背板,所述底框上滑動連接有一用于安裝所述測試單元的插接裝置;所述背板包括至少兩組對稱設置的用于安裝待測電路板的安裝件。通過背板上對稱設置安裝件,待測電路板可翻轉(zhuǎn)安裝于該背板,從而實現(xiàn)一站式測試,減少電路板轉(zhuǎn)運造成損壞的隱患。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種電路板測試裝置。
背景技術(shù)
一般主機(例如電腦主機、網(wǎng)絡服務器主機、工業(yè)電腦主機等)的制造商,均會在該主機組裝出廠前,對該主機的電路板進行檢測。以服務器的主機板為例,于生產(chǎn)線上進行該主機板的測試工作時,需要將該主機板與其相配合的配件(如電源、硬盤、散熱器等)一一連接,之后再操作該主機板模擬實際使用的各項功能及動作,并依據(jù)所述動作是否可正常工作,來判斷該主機板是否故障。
隨著電路板集成度的提高,由于與該主機板相配合的配件(如電源、硬盤、散熱器等)大多集中組設于機箱上,而在實際測試過程中,往往沒有足夠數(shù)量的機箱供測試人員使用,且通常情況下,一塊主機板要經(jīng)歷幾項測試和不同的測試環(huán)境,因而,測試人員不得不頻繁地周轉(zhuǎn)于各種測試環(huán)境中,如此非但延長了測試時間,而且增加了主機板在頻繁搬運過程中損壞的隱患。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,有必要提供一種電路板測試裝置,使其能夠?qū)崿F(xiàn)雙面電路板的測試,減少電路板在測試裝置之間的周轉(zhuǎn)。
一種電路板測試裝置,包括機架及安裝于所述機架上的測試單元和控制單元,所述機架包括用于安裝所述測試單元的底框、垂直連接于所述底框一側(cè)的邊框及固定于所述邊框上的背板,所述底框上滑動連接有一用于安裝所述測試單元的插接裝置;所述背板包括至少兩組對稱設置的用于安裝待測電路板的安裝件。
作為優(yōu)選,所述底框和所述邊框是由支桿圍合而成的矩形框,所述插接裝置的兩端分別滑動連接于所述底框的兩平行支桿上。
作為優(yōu)選,所述支桿為方形桿,所述方形桿的側(cè)面均設有卡槽,所述插接裝置的兩端分別滑動連接于所述底框的兩平行支桿對應的卡槽內(nèi)。
作為優(yōu)選,所述插接裝置包括一滑動桿及一可拆卸地連接于所述滑動桿上的插接件,所述滑動桿的兩端分別通過一卡接部件連接于所述底框的兩平行支桿對應的卡槽內(nèi)。
作為優(yōu)選,所述插接件包括兩相互垂直設置的插接板,所述插接件選擇性通過其中一插接板可拆卸地連接于所述滑動桿上。
作為優(yōu)選,所述電路板測試裝置還包括移動安裝于所述邊框上部的支桿的散熱裝置。
作為優(yōu)選,所述散熱裝置包括至少一個散熱風扇、與所述散熱風扇連通的導風通道及連接于所述導風通道出風端的導風罩,所述導風通道下部設有滑動件,所述邊框上部設有與所述滑動件匹配的滑槽。
作為優(yōu)選,所述滑動件包括沿所述滑槽的延伸方向設置并卡接于所述滑槽內(nèi)的導向片、連接所述導風通道及所述導向片的連接片。
作為優(yōu)選,所述導風罩轉(zhuǎn)動連接于所述導風通道的出風端。
作為優(yōu)選,所述控制單元包括電源、與所述電源電連接的主控板及形成于所述電源與所述主控板之間的散熱通道。
上述電路板測試裝置中,待測電路板可通過背板上對稱設置安裝件可翻轉(zhuǎn)安裝于該背板,實現(xiàn)電路板的雙面測試,同時測試單元通過插接裝置滑動連接于所述底框上,便于更換測試單元及調(diào)整測試單元的位置,實現(xiàn)了電路板的一站式測試,減少電路板因在測試裝置間轉(zhuǎn)運造成損壞的隱患。
附圖說明
圖1為電路板測試裝置在一較優(yōu)實施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為中電路板測試裝置及待測電路板的分解視圖。
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