[發明專利]一種用于45°光纖陣列耦合效率測試的裝置及方法

有效

• 申請號: 201611232663.1
• 申請日: 2016-12-28
• 公開（公告）號: CN106788698B
• 公開（公告）日: 2018-12-25
• 發明（設計）人: 王騰飛;趙峰;張光
• 申請（專利權）人: 上海航天科工電器研究院有限公司
• 主分類號: H04B10/073
• 分類號: H04B10/073
• 代理公司: 上海藍迪專利商標事務所(普通合伙) 31215
• 代理人: 徐筱梅;王騮

本發明公開了一種用于45°光纖陣列耦合效率測試的裝置及方法，其中，該裝置包括：光纖陣列固定夾具、鎖緊軌道、二維調整平臺及固定底座；該方法包括：將45°光纖陣列置于光纖陣列固定夾具；安裝光纖陣列固定夾具；安裝光功率探測器；連接標準光源；光功率最大值的捕捉；計算耦合效率。本發明具有操作簡單、質量判定規范、測試精度高、杜絕不良品流入生產工序、提高生產合格率的優點。

技術領域

本發明涉及光纖通信技術領域，尤其是一種用于45°光纖陣列耦合效率測試的裝置及方法。

背景技術

隨著光纖通信行業的迅速發展，現有技術對于并行光電轉換模塊、有源光纜的使用也更加廣泛。45°光纖陣列是通過將光纖端面研磨成45°形成全反射面，從而實現光路90°轉角的并行耦合器件。45°光纖陣列具有體積小，耐溫寬，無需開模，驗證周期短等優點，被廣泛應用于數據中心、軍工通信、接入網等高速率光電轉換模塊和有源光纜中。

存在的問題是，對45°光纖陣列最常見的檢測方法是端面目檢，其性能測試過程繁瑣，當45°光纖陣列作為發射端時，可以通過與VCSEL的耦合，通過尾端用插入、轉接或熔纖等方式來監測光功率，而當45°光纖陣列作為接收端與PIN芯片耦合時，也只能通過耦合后對接收端性能測試來判定是否合格。這就導致了檢測滯后及效率低下，甚至還會造成材料浪費。

發明內容

本發明的目的是針對現有技術的不足而提供的一種用于45°光纖陣列耦合效率測試的裝置及方法，該裝置包括：光纖陣列固定夾具、鎖緊軌道、固定底座、二維調整平臺及光功率探測器；該方法包括：將45°光纖陣列置于光纖陣列固定夾具；安裝光纖陣列固定夾具；安裝光功率探測器；連接標準光源；光功率最大值的捕捉；計算耦合效率；本發明具有操作簡單、質量判定規范、測試精度高、杜絕不良品流入生產工序、提高生產合格率的優點。

實現本發明目的的具體技術方案是：

一種用于45°光纖陣列耦合效率測試的裝置，其特點包括光纖陣列固定夾具、鎖緊軌道、二維調整平臺及固定底座；

所述光纖陣列固定夾具由夾具底座及夾具蓋板組成，夾具底座上設有光纖陣列放置槽，光纖陣列放置槽的側邊設有定位塊，夾具蓋板與夾具底座之間鉸鏈連接；

所述鎖緊軌道為正面設有矩形通槽、側面設有連接口的塊狀件，且矩形通槽的一側邊設有道軌、另一側邊設有頂絲 、連接口上設有緊固螺栓；

所述固定底座的上平面設有縱向滑道、一端設有接口座；

所述二維調整平臺由坐標臺與托板構成，坐標臺的正面設有矩陣排列的定位孔，坐標臺的反面設有橫向滑軌，坐標臺上設有橫向驅動扭，托板的正面設有橫向滑道，托板的反面設有縱向滑道，托板上設有縱向驅動扭，坐標臺設于托板上，坐標臺的橫向滑軌與托板的橫向滑道配合；

所述鎖緊軌道的連接口經緊固螺栓與固定底座的接口座連接；所述二維調整平臺設于固定底座上，二維調整平臺托板上的縱向滑道與固定底座的縱向滑軌配合；所述光纖陣列固定夾具設于鎖緊軌道的矩形通槽內；所述光功率探測器設于二維調整平臺上。

一種實施上述裝置對45°光纖陣列耦合效率測試的方法，其特點包括如下步驟：

步驟一：將45°光纖陣列置于光纖陣列固定夾具

將45°光纖陣列的光口朝上、光纖陣列的光口由夾具底座光纖陣列放置槽的另一端露出、并平整置于光纖陣列放置槽內，光纖陣列經定位塊固定，將夾具蓋板與夾具底座經鉸鏈扣合；

步驟二：安裝光纖陣列固定夾具

將光纖陣列固定夾具放在鎖緊軌道的矩形通槽內，用頂絲鎖緊其一側，并使另一側平行緊靠在道軌上；

步驟三：安裝光功率探測器