[發明專利]飛控嵌入式計算機性能測評方法

有效

• 申請號: 201611230312.7
• 申請日: 2016-12-28
• 公開（公告）號: CN106648941B
• 公開（公告）日: 2019-09-24
• 發明（設計）人: 朱怡安;羅殊彥;王仲軒;李聯;韓冰
• 申請（專利權）人: 西北工業大學
• 主分類號: G06F11/00
• 分類號: G06F11/00
• 代理公司: 西北工業大學專利中心 61204
• 代理人: 王鮮凱

本發明公開了一種飛控嵌入式計算機性能測評方法，用于解決現有嵌入式計算機性能測評方法綜合測試評價能力差的技術問題。技術方案是構建具有針對性的全面測試指標體系，對需要進行測試的飛控嵌入式系統給予綜合評價。該方法針對飛控計算機的系統要求和特點，提出了處理器性能指標、存儲器性能指標、I/O性能指標、同步處理性能指標、信號處理指標、數字信號處理、應用與邏輯運算指標和控制與顯示性能指標等8個指標。運行這8個指標的測試程序，分別得到對應的測試結果；隨后把這8個測試結果放入綜合評價體系中，通過二次評價權重分配法和限界極差變換法的變換與計算得到整個飛控嵌入式計算機的性能分數，綜合測試評價能力強。

技術領域

本發明涉及一種嵌入式計算機性能測評方法，特別是涉及一種飛控嵌入式計算機性能測評方法。

背景技術

文獻“用于嵌入式計算機性能評測技術及其方法研究，現代電子技術，2008，Vol31(14)，p49-54”公開了一種基于E3S評測基準的嵌入式計算機測評方法。該方法對嵌入式計算機的計算能力進行了測試，還包括通過E3S測試基準對嵌入式計算機的分配、指派、調度能力進行測試，但其存在缺乏對飛控計算機所特有的各個分系統進行詳細的測試與分析的問題，如沒有信號處理性能測試、應用與邏輯運算性能測試等。并且文獻中的方法缺少綜合評價體系，無法對飛控嵌入式計算機性能給出整體層面的評價。

綜上所述，現有的飛控嵌入式計算機性能測試方法存在測試內容不全面、缺少針對性、沒有綜合測試評價體系的問題。

發明內容

為了克服現有嵌入式計算機性能測評方法綜合測試評價能力差的不足，本發明提供一種飛控嵌入式計算機性能測評方法。該方法構建具有針對性的全面測試指標體系，對需要進行測試的飛控嵌入式系統給予綜合評價。該方法針對飛控計算機的系統要求和特點，提出了處理器性能指標、存儲器性能指標、I/O性能指標、同步處理性能指標、信號處理指標、數字信號處理、應用與邏輯運算指標和控制與顯示性能指標等8個指標。運行這8個指標的測試程序，分別得到對應的測試結果；隨后把這8個測試結果放入綜合評價體系中，通過二次評價權重分配法和限界極差變換法的變換與計算得到整個飛控嵌入式計算機的性能分數，綜合測試評價能力強。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種飛控嵌入式計算機性能測評方法，其特點是包括以下步驟：

步驟一、針對處理器性能指標，測試CPU的MIPS和MFLOPS值。

MIPS＝Num1/time (1)

MFLOPS＝Num2/(time2-time1) (2)

式中，MIPS表示每秒處理的百萬級的機器語言指令數，Num1表示測試程序執行指令數，time表示MIPS測試程序函數體執行時間；MFLOPS表示每秒百萬個浮點操作，Num2表示測試程序浮點指令執行數，(time2-time1)表示測試程序執行時間。

步驟二、進行I/O性能測試，通過改變文件的大小和數量，測試數據的傳輸讀/寫速率以及讀/寫傳輸延遲。

步驟三、進行包括緊密同步、幀同步以及異步運行三種方式的同步性能測試，將整個任務周期開始時需要進行的同步處理過程整體時間作為一個性能指標，其值為：任務周期同步平均時間＝兩次握手同步平均時間+失步概率*失步處理平均時間。

步驟四、應用與邏輯運算性能測試，包括插值計算和矩陣運算。插值計算分為線性內插和非線性內插，矩陣運算分為初始化、矩陣乘法、矩陣的轉置和矩陣相加減。

步驟五、存儲器性能測試包括速率測試和傳輸時延測試。在測試時分別傳輸大文件和小文件，并且分別設置不同的數據塊大小進行測試。傳輸時延測試采用兩次傳輸時間差的方法：

T＝2*time1-time2 (3)