[發明專利]一種適用于高回損陰陽式光固定衰減器的自動測試系統

有效

• 申請號: 201611223490.7
• 申請日: 2016-12-27
• 公開（公告）號: CN106771752B
• 公開（公告）日: 2023-05-30
• 發明（設計）人: 周永軍
• 申請（專利權）人: 鎮江奧菲特光電科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 南京鐘山專利代理有限公司 32252
• 代理人: 戴朝榮

本發明公開了一種適用于高回損陰陽式光固定衰減器的自動測試系統，涉及信號傳輸技術領域。該適用于高回損陰陽式光固定衰減器的自動測試系統，包括外殼，所述外殼的內腔通過螺栓固定連接有電路板，所述電路板上分別固定連接有處理器、內存條、第一信號強度檢測裝置、第二信號強度檢測裝置、放大器和信號比較器。該適用于高回損陰陽式光固定衰減器的自動測試系統，通過處理器、內存條、第一信號強度檢測裝置、第二信號強度檢測裝置、放大器、信號比較器、信號發送端、信號接收端、顯示屏和控制面板的配合使用，縮短了信號傳輸線路的長度，避免了由于信號傳輸線路過長而導致的誤差過大。

技術領域

本發明涉及信號傳輸技術領域，具體為一種適用于高回損陰陽式光固定衰減器的自動測試系統。

背景技術

衰減器是一種提供衰減的電子元器件，廣泛地應用于電子設備中，它的主要用途是:調整電路中信號的大小；在比較法測量電路中，可用來直讀被測網絡的衰減值；改善阻抗匹配，若某些電路要求有一個比較穩定的負載阻抗時，則可在此電路與實際負載阻抗之間插入一個衰減器，能夠緩沖阻抗的變化。

傳統的測試系統，在使用過程中，容易出現由于信號傳輸線路過長而導致的誤差過大，難以很好的對衰減器的性能進行評估，降低了測試系統的精準度，給使用者的使用帶來不便。

發明內容

(一)解決的技術問題

針對現有技術的不足，本發明提供了一種適用于高回損陰陽式光固定衰減器的自動測試系統，解決了容易出現由于信號傳輸線路過長而導致誤差過大的問題。

(二)技術方案

為實現以上目的，本發明通過以下技術方案予以實現：一種適用于高回損陰陽式光固定衰減器的自動測試系統，包括外殼，所述外殼的內腔通過螺栓固定連接有電路板，所述電路板上分別固定連接有處理器、內存條、第一信號強度檢測裝置、第二信號強度檢測裝置、放大器和信號比較器，所述外殼的頂部從左往右依次貫穿設置有信號發送端和信號接收端，所述外殼的右側從上往下依次固定連接有顯示屏和控制面板，所述外殼的底部貫穿設置有電源接口，所述外殼正表面的左側通過轉軸活動連接有裝置蓋，所述裝置蓋的正表面固定安裝有裝置鎖，所述外殼內腔的右側固定連接有與裝置鎖配合設置的卡塊。

所述處理器的輸入端分別與電源接口和控制面板的輸出端電性連接，所述電源接口的輸入端與電源的輸出端電性連接，所述處理器的輸出端與顯示屏的輸入端電性連接，所述處理器分別與信號比較器和內存條雙向連接，所述信號比較器的輸出端與第一信號強度檢測裝置的輸入端電性連接，所述第一信號強度檢測裝置的輸出端依次通過信號發送端、衰減器和信號接收端的輸入端電性連接，所述信號接收端的輸出端通過放大器與第二信號強度檢測裝置的輸入端電性連接，所述第二信號強度檢測裝置的輸出端與信號比較器的輸入端電性連接。

優選的，所述電路板的正表面且位于第一信號強度檢測裝置和第二信號強度檢測裝置之間開設有散熱孔。

優選的，所述裝置蓋的正表面固定連接有與外殼配合設置的緩沖膠皮。

優選的，所述處理器的主頻率至少為2.2GHz。

優選的，所述內存條的存儲容量至少為512M。

(三)有益效果

本發明提供了一種適用于高回損陰陽式光固定衰減器的自動測試系統。具備以下有益效果：該適用于高回損陰陽式光固定衰減器的自動測試系統，通過處理器、內存條、第一信號強度檢測裝置、第二信號強度檢測裝置、放大器、信號比較器、信號發送端、信號接收端、顯示屏和控制面板的配合使用，縮短了信號傳輸線路的長度，避免了由于信號傳輸線路過長而導致的誤差過大，使得測試系統可以很好的對衰減器的性能進行評估，提高了測試系統的精準度，方便了使用者的使用。

附圖說明

圖1為本發明結構示意圖；

圖2為本發明結構原理框圖。