[發明專利]一種放射源搜尋裝置和搜尋方法有效
| 申請號: | 201611222783.3 | 申請日: | 2016-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN106443807B | 公開(公告)日: | 2018-05-04 |
| 發明(設計)人: | 張慶賢;趙奎;葛良全;谷懿;羅耀耀;徐僳;吳濤;張罡 | 申請(專利權)人: | 成都理工大學 |
| 主分類號: | G01V5/00 | 分類號: | G01V5/00;G01T1/202 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610059 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 放射源 搜尋 裝置 方法 | ||
1.一種放射源搜尋裝置,其特征在于:包括立柱,所述立柱兩側靠近頂部處分別設有一橫桿,兩橫桿能在立柱上水平上下移動,一橫桿下設有一大晶體探測器,另一橫桿下設有一小晶體探測器組;
所述大晶體探測器的探測方向豎直向下;所述小晶體探測器組包括數個小晶體探測器,所述小晶體探測器包括一NaI晶體探測器和準直器,所述準直器位于NaI晶體探測器的探測端,二者均為圓柱形,同軸且固定成一整體,所述整體外壁和頂部包覆有晶體屏蔽鉛層;
其中一小晶體探測器為中心探測器,位于中心且探測方向為豎直向下,其余小晶體探測器為外圍探測器,與中心探測器位于一個平面且均勻繞其一周,所述外圍探測器下端均向遠離中心探測器的一側偏轉,與豎直面形成θ夾角。
2.根據權利要求1所述的一種放射源搜尋裝置,其特征在于:所述小晶體探測器一共為七個。
3.根據權利要求1所述的一種放射源搜尋裝置,其特征在于:所述立柱為能定位的伸縮調節桿,所述外圍探測器與中心探測器間設有調整θ夾角角度的角度調節器。
4.根據權利要求1所述的一種放射源搜尋裝置的搜尋方法,其特征在于:包括以下步驟:
(1)大晶體探測器初步確定探測范圍:
(11)設待測區域為M,在該區域建立坐標系,沿橫坐標在在M區域內隨機選取一條直線L1作為測量路線;將直線L1分為數個測量點;
(12)用大晶體探測器沿測量點依次測量,讀取計數率,并根據計數率作強度散點圖,擬合出一個帶有峰的曲線,若無明顯波峰或沒有波峰,則重新選擇直線L至出現明顯波峰;
(13)在波峰兩側各選取一個點,過該點各作一條沿Y軸的直線,兩直線間的區域形成帶狀區域A;
(14)在帶狀區域A內,沿縱坐標設置數個測量點,并重復步驟(12),
(15)在步驟(14)的波峰兩側各選取一個點,過該點各作一條沿X軸的直線,兩直線間的區域形成帶狀區域B;
(2)小晶體探測器組確定最終位置:
(21)調整外圍探測器與中心探測器的夾角至θ°,使每個外圍探測器均分別與中心探測器形成一相交的探測區域;預設一閾值,當小晶體探測器計數超過該閾值則判斷為異常計數;
(22)在區域A、B重疊范圍內,隨機選取測量點進行測量,并獲取測量點處各小晶體探測器的計數率,直至一個外圍探測器和中心探測器上出現異常計數,或僅一個外圍探測器上出現異常計數;
若異常計數同時出現在一個外圍探測器和中心探測器上,以兩探測器的準直器中點豎直投影到水平面的點做一條直線L2,中心探測器的探測區域與該直線L2交點為點B、點D,外圍探測器的探測區域與該直線L2焦點為點A、點C,且點B、點C位于相交的探測區域上,計算BC間的距離,并沿所述直線L2移動中心探測器至點C;
若異常計數只出現在一個外圍探測器上,計算AB間的距離,并沿所述直線移動中心探測器至點B;
(23)重復步驟(22)至放射源出現在視線范圍內,搜尋結束。
5.根據權利要求4所述的一種放射源搜尋裝置的搜尋方法,其特征在于:所述步驟(12)中,明顯波峰的判定標準為:
測量待測區域M的本底值Nb,再根據強度散點圖上的點,計算其標準差σ,若每個點的計數值均小于Nb+2σ,則無明顯波峰,反之若出現至少一個點大于或等于Nb+2σ,則有明顯波峰。
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