[發明專利]一種解除函數外部耦合及測試方法

在審

• 申請號: 201611208145.6
• 申請日: 2016-12-23
• 公開（公告）號: CN108241572A
• 公開（公告）日: 2018-07-03
• 發明（設計）人: 方加強;方澤文
• 申請（專利權）人: 惠州市德賽西威汽車電子股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 陳衛;譚映華

本發明為一種解除函數外部耦合及測試方法，包括以下步驟：函數分類：分析被測源文件，并對待測函數進行分類；函數耦合：根據函數分類進行耦合，如果待測函數本身是非耦合函數，則進行下一步驟；如果函數存在耦合，則設立外部耦合函數，然后再進行下一步驟；函數測試：利用測試單元工具生成測試用例，并根據函數分類和函數耦合情況進行測試；本方法在函數解耦后間接初始化了外部變量或公共數據，不需要人工添加初始化，單元測試效率得到大幅度提高。

技術領域

本發明涉及嵌入式軟件領域，尤其是一種解除函數外部耦合及測試方法。

技術背景

在嵌入式軟件領域，單元測試技術已經被廣泛應用，在現有軟件產品中，存在著大量高外部耦合的函數，即這些函數在函數內部直接調用訪問外部變量或者公共數據。

目前，大多數的單元測試工具，在為這些外部耦合函數自動生成單元測試用例時，測試工具只能對函數的形參列表進行初始化并測試，并不能自動初始化函數內部訪問到的外部數據，而現有的解決方案是，在工具生成測試用例后，人工在測試用例中添加被測函數使用到的外部變量的初始化，當測試用例有成千上萬條時，這個方案效率低下，維護困難。

發明內容

為了解決上述問題，本發明的目的是提供一種解除函數外部耦合及測試方法，本方法在函數解耦后，并對外部數據分析，達到函數低耦合高內聚的效果，提高函數的復用性，降低軟件后期維護成本，而且，解耦后的函數通過工具生成單元測試用例，包含了函數形參的各種初始化組合，間接初始化了外部變量或公共數據，不需要人工添加初始化，單元測試效率得到大幅度提高。

本發明的技術方案如下：一種解除函數外部耦合及測試方法，包括以下步驟：

首先，函數分類：分析被測源文件，并對待測函數進行分類；

然后，函數耦合：根據函數分類進行耦合，如果待測函數本身是非耦合函數，則進行下一步驟；如果函數存在耦合，則設立外部耦合函數，然后再進行下一步驟；

最后，函數測試：利用測試單元工具生成測試用例，并根據函數分類和函數耦合情況進行測試。

進一步的，所述函數耦合的待測函數存在外部數據變量，通過外部數據變量對待測函數進行解耦封裝，并把外部數據以形式參數的方式引入設立的外部耦合函數。

進一步的，所述外部耦合函數的形參列表通過測試單元直接自動生成。

采用以上技術方案的有益效果是：本方法在函數解耦后，并對外部數據分析，達到函數低耦合高內聚的效果，提高函數的復用性，降低軟件后期維護成本，而且，解耦后的函數通過工具生成單元測試用例，包含了函數形參的各種初始化組合，間接初始化了外部變量或公共數據，不需要人工添加初始化，單元測試效率得到大幅度提高。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本申請的進一步理解，構成本申請的一部分，本申請的示意性實施例及其說明用于解釋本申請，并不構成本申請的不當限定。在附圖中：

圖1為本發明的整體流程圖；

圖2為本發明的一個舉例的流程圖。

圖中的數字或字母代表的相應部件的名稱：S100. 函數分類，S200. 函數耦合，S300. 函數測試。

具體實施例

如附圖1所示，一種解除函數外部耦合及測試方法，為了省略在測試函數時，需要人工在測試用例中初始化外部數據變量的步驟，提供以下解除函數外部耦合的步驟：

首先，函數分類S100：分析被測源文件，并對待測函數進行分類；