[發(fā)明專利]雙能探測(cè)器及輻射檢查系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611205087.1 | 申請(qǐng)日: | 2016-12-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106483153A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-03-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李樹(shù)偉;張清軍;趙自然;王鈞效;鄒湘;趙博震;孫立風(fēng);王永強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 同方威視技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/08 | 分類號(hào): | G01N23/08;G01V5/00 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所11038 | 代理人: | 顏鏑 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 探測(cè)器 輻射 檢查 系統(tǒng) | ||
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





