[發(fā)明專利]一種NVM測試讀取加速方法及電路在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611189047.2 | 申請日: | 2016-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN106653096A | 公開(公告)日: | 2017-05-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王輝 | 申請(專利權(quán))人: | 北京中電華大電子設(shè)計有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G11C29/56 | 分類號: | G11C29/56 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 102209 北京市昌平區(qū)北七家鎮(zhèn)未*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 nvm 測試 讀取 加速 方法 電路 | ||
1.一種NVM測試讀取加速電路,其特征在于,由地址生成邏輯、比較數(shù)據(jù)生成邏輯、數(shù)據(jù)比較邏輯、NVM存儲器、用于裝載信息的數(shù)據(jù)寄存器(包括片選寄存器、起始地址寄存器、結(jié)束地址寄存器、Pattern類型寄存器、原始數(shù)據(jù)寄存器和Pattern數(shù)據(jù)參考寄存器)、以及其它相關(guān)的組合邏輯構(gòu)成,其中:所述的地址生成邏輯讀取片選寄存器、起始地址寄存器、結(jié)束地址寄存器和Pattern類型寄存器的值,進行NVM地址的控制,控制每次讀出數(shù)據(jù)的地址,并將此地址寫回起始地址寄存器中;地址生成邏輯接收比較邏輯輸出的fail信號,若fail信號為1,則會將NVM地址停止變化;地址生成邏輯判斷其輸出給NVM的地址和結(jié)束地址寄存器的值相等時,則會將finish信號輸出為1,表示測試結(jié)束;通過硬件實現(xiàn)內(nèi)部并行數(shù)據(jù)讀出比較以提高速度。
2.一種NVM測試讀取加速方法,應(yīng)用于權(quán)利要求1所述的電路,其特征在于,在NVM存儲器讀取加速測試時,通過軟件啟動,硬件自動執(zhí)行NVM存儲器的數(shù)據(jù)讀出和比對的工作,通過并行數(shù)據(jù)比較以達到加速的目的。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,由軟件置位所述用于裝載信息的數(shù)據(jù)寄存器,硬件自動完成NVM存儲器測試的“地址、期望數(shù)據(jù)產(chǎn)生=>數(shù)據(jù)讀取=>數(shù)據(jù)比較”過程,根據(jù)比較的結(jié)果來判斷是否繼續(xù)執(zhí)行測試,并將結(jié)果反饋給軟件。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于:所述電路對NVM存儲數(shù)據(jù)進行最大位寬的同時比較。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于:所述電路可以根據(jù)Pattern類型寄存器的值,針對不同類型的Pattern進行測試。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于:通過軟件配置用于裝載信息的數(shù)據(jù)寄存器值,電路可以自動計算每個地址的比對期望值。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于:數(shù)據(jù)比較結(jié)果發(fā)生不相等時,電路保持當(dāng)前狀態(tài),并等待軟件命令進行處;數(shù)據(jù)比較結(jié)果相等時,電路自動完成測試并等待接收軟件下一次的比較指令。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于:數(shù)據(jù)比較結(jié)果發(fā)生不相等時,軟件可以通過讀取寄存器中存儲數(shù)據(jù)和NVM中數(shù)據(jù)的方式進行分析和調(diào)試。
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