[發明專利]檢驗機及其連接夾具有效
| 申請號: | 201611186375.7 | 申請日: | 2016-10-24 |
| 公開(公告)號: | CN106610275B | 公開(公告)日: | 2020-03-17 |
| 發明(設計)人: | 倉橋佑旗;山縣正意 | 申請(專利權)人: | 株式會社三豐 |
| 主分類號: | G01B21/02 | 分類號: | G01B21/02;G01B3/22 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 曲瑩 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢驗 及其 連接 夾具 | ||
本發明公開了檢驗機及其連接夾具。夾具包括三個柱狀構件、觸針頭接收構件、及夾具固定部。第二柱狀構件沿Z方向延伸。第一柱狀構件沿X方向延伸且構造成通過使第一柱狀構件的第一端結合到第二柱狀構件的第一端而在X方向伸出的懸臂梁。第三柱狀構件沿X方向延伸且構造成通過使第三柱狀構件的第一端接合到第二柱狀構件的第二端而沿與第一柱狀構件相同的方向伸出的懸臂梁。觸針頭接收構件接合到第三柱狀構件從而位于計量器的心軸的最前端的觸針頭所形成接觸的表面面對第一柱狀構件。夾具固定部設置到第一柱狀構件從而可附接于計量器檢驗機的測量心軸。
技術領域
本發明涉及一種連接夾具和一種用于檢驗計量器的計量器檢驗機。特別地,本發明涉及夾具和檢驗處于倒置姿態的計量器(例如刻度盤)的計量特性的計量器檢驗機,其中當檢驗所述計量器時,觸針頭指向上。
背景技術
已知刻度盤是作為一種比較器的實例。刻度盤包括立軸式和杠桿式。圖14示出了一種立軸式刻度盤10。接著是參考圖14的刻度盤的簡要說明。
刻度盤10包括圓柱殼體11,能夠垂直放置的心軸15,以及從殼體11伸出的桿20。刻度盤面(顯示器)12設置在殼體11的前面。齒輪機構(圖中未示出)設置在殼體11的內部,所述齒輪機構放大所述心軸15的位移并將改變量傳送至指針13。觸針頭16設置到心軸15的底端。所述桿20可滑動地支撐心軸15。
心軸15穿過殼體11插入,且心軸15的頂端從殼體11中伸出。然后,為了保護心軸15的頂端部分,在殼體11的側面設置帽21。圖15示出了帽21與殼體11分離的狀態。殼體11的側面(圖15中未示出)鉆入一個孔,心軸15的頂端部分通過該孔伸出,且中空的陽螺紋部分14設置到所述孔的外周。所述帽21能夠擰到所述陽螺紋部分14上。
另外,止動螺釘18可以螺紋旋入心軸15的頂端部分內。所述止動螺釘18包括從止動螺釘18張開的凸緣19。所述凸緣19由于緊靠所述孔的邊沿(更精確地,陽螺紋部分14的邊沿)因而是心軸15的止動器。所述帽21設計有足夠的內徑和深度以允許止動螺釘18垂直移動。
在這一點上,刻度盤性能在ISO463(http://www.iso.org/iso/home/store/catalogue_ics/catalogue_detail_ics.htm?csnumber=42802)和JISB 7503(http://kikakurui.com/b7/B7503-2011-01.html)中規定。刻度盤的制造商必須檢驗他們的產品以決定刻度盤是否滿足如ISO 463和JISB7503中規定的規定值。當檢驗刻度盤時,必須檢驗指示精度、測量力和重復精度。
檢驗刻度盤包含大量的測量情況,且必須重復執行,其需要大量的時間和精力。鑒于此,申請人(刻度盤的一個制造商)已經開發了計量器檢驗機以使得刻度盤的檢驗有效地和容易地根據既定的檢驗標準(例如,日本專利公開號No.H04-31531,日本專利號No.2645576,日本專利公開號No.2002-122402,以及日本專利公開號No.2002-122404)執行。下文是現有的計量器檢驗機的簡要說明。計量器檢驗機的外觀視圖在圖16中示出,計量器檢驗機的內部構造在圖18中示出。圖17展示了刻度盤已經布置在計量器檢驗機上的狀態。計量器檢驗機100包括牢固地固定刻度盤10的托架110。托架110通過夾住刻度盤10的桿20牢固地固定刻度盤10。刻度盤10可以以多種大小出現,因此設置托架110以便自由地上升和下降從而改變高度位置。特別地,具有導軌121的背板120直立在殼體130上,且托架110可以沿著導軌121自由地上升和下降。另外,托架110可以通過操作把手111而固定就位。
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