[發明專利]一種基于改進閾值分割的織物疵點檢測方法在審
| 申請號： | 201611160458.9 | 申請日： | 2016-12-15 |
| 公開（公告）號： | CN106780464A | 公開（公告）日： | 2017-05-31 |
| 發明（設計）人： | 周武能;錢煒 | 申請（專利權）人： | 東華大學 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G06T5/00;G06T7/136 |
| 代理公司： | 上海泰能知識產權代理事務所31233 | 代理人： | 宋纓,錢文斌 |
| 地址： | 201620 上海市*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 改進 閾值 分割 織物 疵點 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于改進閾值分割的織物疵點檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：
(1)對采集圖像進行預處理；
(2)根據圖像的灰度值設定初始閾值，將圖像中灰度值不大于初始閾值的像素分為背景，將灰度值大于初始閾值的像素分為疵點目標；
(3)計算背景、疵點目標和整幅圖像的灰度均值；
(4)根據得到的灰度均值計算背景和疵點目標的類內方差和類間方差；
(5)根據得到的類內方差和類間方差確定最優閾值；
(6)根據得到的最優閾值與像素點的像素值進行比較確定疵點目標。
2.根據權利要求1所述的基于改進閾值分割的織物疵點檢測方法，其特征在于，所述步驟(1)中通過中值濾波的方式對采集圖像進行去噪處理。
3.根據權利要求1所述的基于改進閾值分割的織物疵點檢測方法，其特征在于，所述步驟(5)中最優閾值的確定準則為其中，t*為最優閾值，Pi表示灰度為i的像素的頻數，μB(t)為初始閾值下背景的灰度均值，μo(t)為初始閾值下疵點目標的灰度均值。
4.根據權利要求1所述的基于改進閾值分割的織物疵點檢測方法，其特征在于，所述步驟(6)中像素點的像素值為該像素及其領域像素灰度值的平均值。
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