[發(fā)明專利]電源電壓檢測電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611154570.1
• 申請日: 2016-12-14
• 公開（公告）號: CN106771519B
• 公開（公告）日: 2019-05-14
• 發(fā)明（設計）人: 李淼
• 申請（專利權）人: 上海貝嶺股份有限公司
• 主分類號: G01R19/165
• 分類號: G01R19/165;G01R31/40
• 代理公司: 上海弼興律師事務所 31283
• 代理人: 薛琦;鄧忠紅

1.一種電源電壓檢測電路，包括檢測支路，所述檢測支路包括穩(wěn)壓元件，其特征在于，所述電源電壓檢測電路還包括偏置模塊、比較模塊和反饋模塊；

所述檢測支路的兩端分別連接電源電壓和所述偏置模塊的第一輸入端；

所述偏置模塊包括第四晶體管和第二晶體管，所述第二晶體管的柵極為所述偏置模塊的第一輸入端，所述第二晶體管的源極為所述偏置模塊的第一輸出端，所述第四晶體管的漏極為所述偏置模塊的第二輸出端；所述第四晶體管的源極與所述電源電壓相連，所述第四晶體管的柵極和漏極與所述第二晶體管的漏極相連；

所述比較模塊包括第八晶體管和第九晶體管，所述第八晶體管的漏極、所述第九晶體管的漏極與所述比較模塊的輸出端相連；所述第八晶體管的源極與所述電源電壓相連，所述第八晶體管的柵極與所述偏置模塊的第二輸出端相連，所述第九晶體管的柵極與所述偏置模塊的第一輸出端相連，所述第九晶體管的源極接地；

所述反饋模塊包括第十二晶體管和第十三晶體管，所述第十二晶體管的漏極和柵極、所述第十三晶體管的柵極與所述比較模塊的輸出端相連，所述第十二晶體管的源極和所述第十三晶體管的源極均接地，所述第十三晶體管的漏極與所述第二晶體管的柵極相連；

所述反饋模塊還包括第十晶體管和第十一晶體管，所述第十晶體管串接于所述比較模塊的輸出端和所述第十二晶體管的漏極之間，所述第十晶體管的漏極和柵極、所述第十一晶體管的柵極與所述比較模塊的輸出端相連，所述第十晶體管的源極與所述第十二晶體管的漏極相連，所述第十一晶體管的源極接地，所述第十一晶體管的漏極用于指示所述電源電壓是否達到預設的標準電壓值；

所述電源電壓檢測電路還包括滯回模塊，所述滯回模塊包括電壓調節(jié)電路、第五晶體管和第六晶體管；

所述第五晶體管的源極與所述電源電壓相連，所述第五晶體管的柵極與所述第四晶體管的漏極相連，所述第五晶體管的漏極與所述第六晶體管的源極相連，所述第六晶體管的漏極與所述第二晶體管的柵極相連；

所述電壓調節(jié)電路的輸出端接至所述第六晶體管的柵極，在所述電源電壓達到預設的標準電壓值后所述電壓調節(jié)電路使得所述第六晶體管導通；

所述電壓調節(jié)電路包括第十九晶體管、第三電阻和鏡像電流源，所述第十九晶體管的源極與所述電源電壓相連，所述第十九晶體管的柵極和漏極與所述第三電阻的一端連接，所述第三電阻的另一端與所述鏡像電流源相連，所述鏡像電流源鏡像所述第四晶體管上的電流；

所述鏡像電流源包括第十八晶體管，所述第十八晶體管的漏極與所述第三電阻的另一端相連，所述第十八晶體管的源極接地；所述電源電壓檢測電路還包括輸出模塊，所述輸出模塊包括第十四晶體管、第十五晶體管、第十六晶體管、第十七晶體管和第三穩(wěn)壓元件，所述第三穩(wěn)壓元件串接于所述第十五晶體管的漏極和地之間，所述第十四晶體管的源極與所述電源電壓相連，所述第十四晶體管的柵極與所述偏置模塊的第二輸出端相連，所述第十四晶體管的漏極、所述第十五晶體管的源極、所述第十六晶體管的源極與所述第十一晶體管的漏極相連，所述第十五晶體管的漏極和柵極與所述第十六晶體管的柵極相連，所述第十七晶體管的漏極和柵極、所述第十八晶體管的柵極和所述第十六晶體管的漏極相連，所述第十七晶體管的源極接地。

2.如權利要求1所述的電源電壓檢測電路，其特征在于，所述偏置模塊還包括第三晶體管，所述第三晶體管的柵極與所述第二晶體管的源極相連，所述第三晶體管的源極接地，所述第三晶體管的漏極與所述第二晶體管的柵極相連。

3.如權利要求2所述的電源電壓檢測電路，其特征在于，所述偏置模塊還包括第二電阻，所述第二電阻串接于所述第二晶體管的源極和地之間。

4.如權利要求3所述的電源電壓檢測電路，其特征在于，所述偏置模塊還包括第七晶體管，所述第七晶體管串接于所述第二電阻和地之間，所述第七晶體管的漏極和柵極與所述第二電阻相連，所述第七晶體管的源極接地。

5.如權利要求1所述的電源電壓檢測電路，其特征在于，所述電源電壓檢測電路還包括第二十晶體管，所述第二十晶體管的柵極與所述第十五晶體管的漏極相連，所述第二十晶體管的漏極與所述電源電壓相連，所述第二十晶體管的源極用于輸出。