[發明專利]一種基于激光及影像的高精度大尺寸綜合測量裝置

在審

• 申請號: 201611153693.3
• 申請日: 2016-12-14
• 公開（公告）號: CN108225174A
• 公開（公告）日: 2018-06-29
• 發明（設計）人: 王珉;沈沂;郝亮;李舒
• 申請（專利權）人: 南京泓天儀器儀表有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

一種基于激光及影像的高精度大尺寸綜合測量檢定裝置，針對現有檢測設備在檢測大尺寸物體時的限制，本發明集合了激光干涉儀和影像測量儀的功能，主體為導軌結構，主體上設有兩個大滑臺，可以沿主體導軌滑動，兩個大滑臺上裝有導軌，兩個小滑臺分別安裝在大滑臺導軌上，可以沿大滑臺上的導軌滑動，兩個小滑臺上分別裝有激光干涉儀和影像測量儀。檢測臺位于主體的一側，二號導軌在檢測臺的一側延伸出來，可以使影像測量儀移動到檢測臺正上方，檢測臺為多段結構，每段兩端設置有螺孔，在檢定線紋尺時，可以用來安裝線紋尺固定裝置。

技術領域

本發明涉及一種基于激光及影像的高精度大尺寸綜合測量裝置。

背景技術

隨著制造業的發展，精度要求的不斷提高，大尺寸測量一直是國內外研究人員研究的熱點問題，特別是對于長度達幾十米的物件的高精度測量，目前還沒有一套專用的設備來開展此項工作。激光干涉儀和影像測量儀是目前廣泛使用的高精度測量儀器，激光干涉儀的測量范圍可以達到50m以上，主要用于動態測量，如精確測量機床的位移量，但對于靜止物件的尺寸卻無法進行準確的測量，；影像測量儀可以精確地測量靜止物件的尺寸，但其測量范圍有限，無法對應大尺寸物件的測量。因此，要實現大尺寸物體的測量，就需要結合激光干涉儀和影像測量儀兩者的特點，開發一種集合了激光干涉儀和影像測量儀功能的綜合測量裝置，來開展大尺寸物件的測量工。

發明內容

為了實現上述目的，本發明采用的技術方案是: 一種基于激光及影像的高精度大尺寸綜合測量裝置，包括測量臺主體，一號大滑臺，二號大滑臺和檢測臺，主體為導軌結構，長度一般在5-50m之間，一號大滑臺和二號大滑臺分別安置在主體導軌的兩端，可以沿主體導軌滑動，檢測臺位于主體的側方，總長度與主體相等。

一號大滑臺和二號大滑臺上分別裝有一號導軌和二號導軌，一號導軌和二號導軌的方向與主體導軌垂直，一號小滑臺和二號小滑臺分別安裝在一號導軌和二號導軌上，可以沿一號導軌和二號導軌滑動，一號小滑臺上裝有激光發射器，二號小滑臺上裝有影像測量儀。

所述檢測臺為多段結構，每段檢測臺檢測臺尺寸相同，處于同一平面上，每段檢測臺上兩端分別有兩個螺孔，用來安裝線紋尺固定裝置，線紋尺固定裝置的作用是在使用本發明檢定線紋尺時起固定線紋尺的作用。

所述主體的底部兩側裝有兩排支腳，用于支撐整個檢測裝置。

所述導軌全部采用氣浮導軌。

所述二號導軌在靠近檢測臺的那一側延伸出來，可以使二號導軌上的影像測量儀移動到檢測臺的正上方。

本發明的有益效果在于：①大尺寸測量裝置，將影像測量儀和激光干涉儀結合起來使用，利用影像測量儀清晰地抓取被測件的邊緣或測量點位，利用激光干涉儀精確地測出位移量，可以準確地測出待測物的尺寸，有效地解決了大尺寸物件無法精確測量的問題；②在測量待測物整體尺寸的同時，對于待測物體上的一些細微結構的測量，可以直接使用影像測量儀完成，即精確又節省了時間，提高了工作效率。

附圖說明：

圖1為本發明的側面結構示意圖，圖2是本發明的立體結構示意圖，圖3是本發明用于測量物體時的示意圖，圖4是用本發明檢定線紋尺時的檢測臺位置的局部示意圖。

其中，1是主體，2是一號大滑臺，3是二號大滑臺，4是一號導軌，5是二號導軌，6是一號小滑臺，7是二號小滑臺，8是激光干涉儀，9是影像測量儀，10是干涉鏡，11是反射鏡，12是檢測臺，13是支腳，14是螺孔，15是待測物體，16是線紋尺固定裝置，17是線紋尺。

具體實施方式：