[發明專利]自由曲面光學元件的在位檢測裝置及檢測方法有效
| 申請號: | 201611152671.5 | 申請日: | 2016-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN106802135B | 公開(公告)日: | 2019-06-14 |
| 發明(設計)人: | 鐵貴鵬;彭小強;戴一帆;關朝亮;陳善勇;王貴林 | 申請(專利權)人: | 中國人民解放軍國防科學技術大學 |
| 主分類號: | G01B11/24 | 分類號: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 湖南兆弘專利事務所(普通合伙) 43008 | 代理人: | 厲田;張麗娟 |
| 地址: | 410073 湖南省長沙市硯瓦池正街47*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 自由 曲面 光學 元件 在位 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種自由曲面光學元件的在位檢測裝置,其特征在于,包括旋轉主軸(2)、Z軸(7)、X軸(8)以及豎直布置于所述Z軸(7)上方的Y軸模塊(1),所述旋轉主軸(2)水平設置于X軸(8)的上方并與所述Z軸(7)平行,旋轉主軸(2)上夾持有自由曲面光學元件(3),所述Y軸模塊(1)包括滑塊(11)和立柱(16),所述滑塊(11)滑設于所述立柱(16)上,所述滑塊(11)上設有用于對所述自由曲面光學元件(3)進行在位測量的位移傳感器(5);所述Y軸模塊(1)還包括驅動機構(17),所述驅動機構(17)與所述滑塊(11)連接并驅動所述滑塊(11)在所述立柱(16)上移動;
所述驅動機構(17)包括驅動電機(171)、上同步帶輪(176)、下同步帶輪(178)以及用于連接所述上同步帶輪(176)和所述下同步帶輪(178)的同步皮帶(177),所述上同步帶輪(176)與所述驅動電機(171)連接,所述同步皮帶(177)上設有同步帶連接板(170),所述同步帶連接板(170)固定于所述滑塊(11)上。
2.根據權利要求1所述的自由曲面光學元件的在位檢測裝置,其特征在于,所述滑塊(11)在靠近自由曲面光學元件(3)方向處設有傳感器安裝板(12),所述位移傳感器(5)通過所述傳感器安裝板(12)固定于所述滑塊(11)上。
3.根據權利要求2所述的自由曲面光學元件的在位檢測裝置,其特征在于,
所述Z軸(7)上設有溜板(6),所述Y軸模塊(1)底部設有用于調整Y軸模塊(1)位置的調整楔塊(15),所述調整楔塊(15)位于溜板(6)上方。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的自由曲面光學元件的在位檢測裝置,其特征在于,
所述Y軸模塊(1)還包括底板(18)和豎直安裝于底板(18)上的驅動安裝板(14),所述驅動安裝板(14)還設有上固定座(141)和下固定座(143),所述驅動機構(17)的上同步帶輪(176)和下同步帶輪(178)分別通過上固定座(141)和下固定座(143)與驅動安裝板(14)連接。
5.一種根據權利要求1至4中任一項自由曲面光學元件的在位檢測裝置的在位檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、通過調整調整楔塊(15)將Y軸模塊(1)調整至與機床原有直線軸X軸(8)、Z軸(7)正交;
S2、確定合適的掃描路徑進行自由曲面輪廓掃描,同時鎖存各軸的坐標及對應的位移傳感器(5)讀數,得到自由曲面光學元件(3)表面的點云數據;
S3、將測得的點云數據與自由曲面光學元件(3)的理想輪廓形狀進行匹配,得到自由曲面光學元件(3)的在位測量誤差;
所述步驟S2的具體步驟為:
根據自由曲面光學元件(3)表面理想形狀確定合適的掃描路徑和采樣頻率,編制掃描程序,控制機床X軸(8)、Z軸(7)、旋轉主軸(2)和Y軸模塊(1)的運動進行自由曲面輪廓掃描,同時鎖存各軸的坐標及對應的位移傳感器(5)讀數,得到自由曲面光學元件(3)表面的點云數據。
6.根據權利要求5所述的在位檢測方法,其特征在于,
所述步驟S2中所述合適的掃描路徑為以下選項的一種:
1)根據X軸、Y軸、Z軸三直線軸形成的空間柵格掃描路徑;
2)根據任意兩直線軸與C軸形成的徑向放射線掃描路徑;
3)C軸持續轉動形成的螺旋掃描路徑。
7.根據權利要求6所述的在位檢測方法,其特征在于,所述空間柵格掃描路徑中,選取X軸、Y軸、Z軸三直線軸中精度最低的直線軸為柵格換行軸,其余兩直線軸為輪廓掃描軸。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國人民解放軍國防科學技術大學,未經中國人民解放軍國防科學技術大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201611152671.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種高分辨力與自校準光譜共焦位移測量系統
- 下一篇:一種偵測元件側邊檢測裝置





