[發(fā)明專利]一種電子設(shè)備故障檢測方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611145046.8
• 申請日: 2016-12-13
• 公開（公告）號: CN106597160B
• 公開（公告）日: 2020-05-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉丹
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東金賦科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京易捷勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11613
• 代理人: 齊勝杰

本發(fā)明涉及一種電子設(shè)備故障檢測方法和裝置。該方法：在電子設(shè)備運行時，獲取電子設(shè)備的環(huán)境數(shù)據(jù)；從環(huán)境數(shù)據(jù)中抽取運行特征，運行特征為電壓波形的相位和振幅，電流波形的相位和振幅，溫度波形的相位和振幅，濕度波形的相位和振幅；將運行特征與預(yù)先存儲的比對特征進行對比；根據(jù)對比結(jié)果對電子設(shè)備進行故障檢測。本發(fā)明在電子設(shè)備運行時，從環(huán)境數(shù)據(jù)中抽取運行特征，運行特征為電壓波形的相位和振幅，電流波形的相位和振幅，溫度波形的相位和振幅，濕度波形的相位和振幅；將運行特征與預(yù)先存儲的比對特征進行對比；根據(jù)對比結(jié)果對電子設(shè)備進行故障檢測，使得故障發(fā)生前對其進行檢測，避免現(xiàn)有技術(shù)中故障發(fā)生后再檢測方法中故障發(fā)生造成的影響。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及故障檢測應(yīng)用領(lǐng)域，尤其涉及一種電子設(shè)備故障檢測方法和裝置。

背景技術(shù)

質(zhì)量水平的高低，反映一個國家的綜合經(jīng)濟實力，質(zhì)量問題是影響國民經(jīng)濟和社會發(fā)展的重要因素。在我國經(jīng)濟發(fā)展到了一個新階段的今天，無論是經(jīng)濟運行的總體質(zhì)量，還是產(chǎn)品質(zhì)量、工程質(zhì)量和服務(wù)質(zhì)量，都比以往任何時候更需要人們的關(guān)注和重視。電子設(shè)備廣泛應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、交通、冶金、電力等國民經(jīng)濟各個部門各個行業(yè)，以及國防和人民日常生活。電子設(shè)備故障檢測方法收到人們廣泛關(guān)注。

傳統(tǒng)的電子設(shè)備故障檢測主要依賴于電子設(shè)備本身的故障檢測手段或者某些傳感器的檢測，這種檢測往往是事后的報警，造成影響。

發(fā)明內(nèi)容

(一)要解決的技術(shù)問題

為了故障發(fā)生后監(jiān)測方法中發(fā)生的故障造成的影響，本發(fā)明提供一種電子設(shè)備故障檢測方法和裝置，在電子設(shè)備運行時，從環(huán)境數(shù)據(jù)中抽取運行特征，運行特征為電壓波形的相位和振幅，電流波形的相位和振幅，溫度波形的相位和振幅，濕度波形的相位和振幅；將運行特征與預(yù)先存儲的比對特征進行對比；根據(jù)對比結(jié)果對電子設(shè)備進行故障檢測，使得故障發(fā)生前對其進行檢測，避免現(xiàn)有技術(shù)中故障發(fā)生后檢測方法中發(fā)生的故障所造成的影響。

(二)技術(shù)方案

為了達到上述目的，本發(fā)明采用的主要技術(shù)方案包括：

一種電子設(shè)備故障檢測方法，該方法包括：

101，在電子設(shè)備運行時，獲取所述電子設(shè)備的環(huán)境數(shù)據(jù)；

102，從所述環(huán)境數(shù)據(jù)中抽取運行特征，所述運行特征為電壓波形的相位和振幅，電流波形的相位和振幅，溫度波形的相位和振幅，濕度波形的相位和振幅；

103，將所述運行特征與預(yù)先存儲的比對特征進行對比；

104，根據(jù)對比結(jié)果對所述電子設(shè)備進行故障檢測。

可選地，步驟101具體包括：

在電子設(shè)備運行時，從與所述電子設(shè)備連接的電壓采集器、電流采集器、溫度采集器、濕度采集中獲取所述電子設(shè)備的環(huán)境數(shù)據(jù)。

可選地，步驟101執(zhí)行之后，還包括：

105-1，每隔預(yù)設(shè)時間，對所述預(yù)設(shè)時間內(nèi)的環(huán)境數(shù)據(jù)進行分析，形成所述電子設(shè)備正常運行時的特征和異常運行時的特征；

105-2，將所述電子設(shè)備正常運行時的特征和異常運行時的特征作為比對特征；

105-3，存儲所述比對特征。

可選地，所述比對特征為特征異常區(qū)間，所述步驟104具體包括：

若所述運行特征位于所述特征異常區(qū)間的1.58倍內(nèi)，則對所述電子設(shè)備進行故障檢測。

可選地，所述比對特征為特征異常臨界值，所述步驟104具體包括：

根據(jù)所述運行特征與所述特征異常臨界值的1.29倍的關(guān)系對所述電子設(shè)備進行故障檢測。