[發明專利]具自我檢測功能的測試電路板及其自我檢測方法有效
| 申請號: | 201611142452.9 | 申請日: | 2016-12-12 |
| 公開(公告)號: | CN108614205B | 公開(公告)日: | 2020-09-11 |
| 發明(設計)人: | 宋平 | 申請(專利權)人: | 英業達科技有限公司;英業達股份有限公司;英業達集團(天津)電子技術有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315 | 代理人: | 王中 |
| 地址: | 201114 上海市閔*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 自我 檢測 功能 測試 電路板 及其 方法 | ||
1.一種具自我檢測功能的測試電路板,其特征在于,包含:
一第一聯合測試工作組接口,用以與聯合測試工作組控制器或是其他的所述測試電路板電性連接,所述第一聯合測試工作組接口包含一第一測試時鐘引腳、一第一測試模式選擇引腳、一第一測試數據輸入引腳以及一第一測試數據輸出引腳;
一聯合測試工作組芯片,所述聯合測試工作組芯片與所述第一測試時鐘引腳、所述第一測試模式選擇引腳以及所述第一測試數據輸入引腳電性連接,聯合測試工作組控制器控制所述聯合測試工作組芯片以進行所述測試電路板的自我檢測,以及當所述聯合測試工作組芯片通過所述測試電路板的自我檢測時產生一通訊信號;
一控制器,所述控制器與所述聯合測試工作組芯片電性連接;
一數據多工器,所述數據多工器與所述聯合測試工作組芯片的數據輸出引腳以及所述控制器電性連接,在預設設定中,所述第一測試數據輸出引腳通過所述數據多工器與所述聯合測試工作組芯片的數據輸出引腳電性連接;
一開關芯片,所述開關芯片與所述第一測試數據輸出引腳、所述控制器、所述數據多工器電性連接;
一緩沖寄存器,所述緩沖寄存器與所述第一測試時鐘引腳以及所述第一測試模式選擇引腳電性連接;
一第二聯合測試工作組接口,用以與其他的所述測試電路板的所述第一聯合測試工作組接口電性連接,所述第二聯合測試工作組接口包含一第二測試時鐘引腳、一第二測試模式選擇引腳、一第二測試數據輸入引腳以及一第二測試數據輸出引腳,所述第二測試時鐘引腳以及所述第二測試模式選擇引腳與所述緩沖寄存器電性連接,所述第二測試數據輸入引腳與所述數據多工器電性連接,所述第二測試數據輸出引腳與所述開關芯片電性連接;及
一測試接口,所述測試接口分別與所述聯合測試工作組芯片以及待測試電路板電性連接,所述聯合測試工作組芯片通過所述測試接口以對待測試電路板進行檢測;
其中,當所述聯合測試工作組芯片產生所述通訊信號時,所述控制器自所述聯合測試工作組芯片接收所述通訊信號以生成一選擇信號,所述數據多工器依據所述選擇信號中斷所述第一測試數據輸出引腳與所述聯合測試工作組芯片的數據輸出引腳的電性連接,并導通所述第二測試數據輸入引腳與所述聯合測試工作組芯片的數據輸出引腳,所述開關芯片依據所述選擇信號導通所述第一測試數據輸出引腳與所述第二測試數據輸出引腳,以使所述第一聯合測試工作組接口以及所述第二聯合測試工作組接口相互導通,并提供所述測試電路板彼此之間通過所述第一聯合測試工作組接口以及所述第二聯合測試工作組接口相互串接。
2.如權利要求1所述的具自我檢測功能的測試電路板,其特征在于,聯合測試工作組控制器是通過邊界掃描技術對所述聯合測試工作組芯片進行控制以對待測試電路板進行檢測或是對所述測試電路板進行自我檢測。
3.如權利要求2所述的具自我檢測功能的測試電路板,其特征在于,聯合測試工作組控制器掃描所述聯合測試工作組芯片的身份識別碼以檢測聯合測試工作組邊界掃描鏈的穩定性。
4.如權利要求3所述的具自我檢測功能的測試電路板,其特征在于,聯合測試工作組控制器將歸零所述聯合測試工作組芯片的邊界掃描鏈,讀取所述聯合測試工作組芯片的身份識別碼并判斷是否一致,通過邊界掃描技術推送邊界掃描樣本以及大量數據并判斷輸出結果是否一致,以對所述測試電路板進行自我檢測。
5.如權利要求1所述的具自我檢測功能的測試電路板,其特征在于,所述緩沖寄存器用以提供所述第一測試時鐘引腳以及所述第一測試模式選擇引腳與所述第二測試時鐘引腳以及所述第二測試模式選擇引腳之間信號的信號強度增強以及信號干擾抵抗,進一步防止其他測試電路板的信號反射影響。
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