[發(fā)明專利]寄存器位帶的測試方法及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611123440.1
• 申請日: 2016-12-08
• 公開（公告）號: CN106776194B
• 公開（公告）日: 2018-12-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃虹;趙啟山;孫含泉;吳昊
• 申請（專利權(quán)）人: 上海東軟載波微電子有限公司
• 主分類號: G06F11/263
• 分類號: G06F11/263;G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 潘彥君;吳敏

1.一種寄存器位帶的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：主控制器、地址重映射單元、測試激勵生成單元、寄存器監(jiān)控單元、測試結(jié)果校驗單元以及存儲器，其中：

所述主控制器，與所述存儲器耦接，適于獲知當前待測試外圍設(shè)備，根據(jù)所述當前待測試外圍設(shè)備，讀取對應(yīng)的屏蔽碼文件，所述屏蔽碼文件中的屏蔽碼適于標識所述當前待測試外圍設(shè)備中進行位帶測試的寄存器；初始化所述存儲器，向所述存儲器中寫入測試參數(shù)；以及，適于從所述存儲器中讀取校驗結(jié)果；其中，所述測試參數(shù)與所述當前待測試外圍設(shè)備相關(guān)，包括：所述屏蔽碼、所述當前待測試外圍設(shè)備中寄存器的首地址、所述當前待測試外圍設(shè)備中寄存器的地址范圍以及所述當前待測試外圍設(shè)備中寄存器的首地址對應(yīng)的位帶重映射區(qū)首地址；

所述地址重映射單元，與所述主控制器耦接，適于根據(jù)所述當前待測試外圍設(shè)備，計算所述當前待測試外圍設(shè)備中寄存器的首地址對應(yīng)的位帶重映射區(qū)首地址，并發(fā)送至所述主控制器；

所述測試激勵生成單元，與所述存儲器耦接，適于從所述存儲器中讀取所述測試參數(shù)，根據(jù)所述屏蔽碼、所述當前待測試外圍設(shè)備中寄存器的首地址以及所述當前待測試外圍設(shè)備中寄存器的首地址對應(yīng)的位帶重映射區(qū)首地址，獲取所述當前待測試外圍設(shè)備中所有存在位帶測試需求的寄存器的地址及其對應(yīng)的位帶重映射區(qū)地址，生成相應(yīng)的測試激勵并進行測試；

所述寄存器監(jiān)控單元，與所述測試結(jié)果校驗單元耦接，適于實時讀取當前進行測試的寄存器對應(yīng)的位帶重映射區(qū)地址中的值、當前進行測試的位帶重映射區(qū)地址對應(yīng)的寄存器中的值以及期望值，并發(fā)送至所述測試結(jié)果校驗單元；所述測試結(jié)果校驗單元，與所述寄存器監(jiān)控單元耦接，適于對所述寄存器監(jiān)控單元獲取到的所述當前進行測試的寄存器對應(yīng)的位帶重映射區(qū)地址中的值、所述當前進行測試的位帶重映射區(qū)地址對應(yīng)的寄存器中的值以及所述期望值進行校驗，并將得到的校驗結(jié)果發(fā)送至所述存儲器。

2.如權(quán)利要求1所述的寄存器位帶的測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括：測試目標選擇單元，與所述主控制器耦接，適于從存在位帶測試需求的外圍設(shè)備中，選取所述當前待測試外圍設(shè)備，并告知所述主控制器。

3.如權(quán)利要求2所述的寄存器位帶的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試目標選擇單元，適于采用宏定義的方法，從所述存在位帶測試需求的外圍設(shè)備中，選取所述當前待測試外圍設(shè)備。

4.如權(quán)利要求3所述的寄存器位帶的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試目標選擇單元，還適于從所述存在位帶測試需求的外圍設(shè)備中，選取所述當前待測試外圍設(shè)備后，獲取所述當前待測試外圍設(shè)備中寄存器的首地址以及所述當前待測試外圍設(shè)備中寄存器的地址范圍。

5.如權(quán)利要求1所述的寄存器位帶的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試激勵生成單元，包括：讀取子單元、遍歷子單元、初始化子單元以及寫入子單元，其中：

所述讀取子單元，與所述存儲器耦接，適于從所述存儲器中，讀取所述屏蔽碼、所述當前待測試外圍設(shè)備中寄存器的首地址、所述當前待測試外圍設(shè)備中寄存器的地址范圍、所述當前待測試外圍設(shè)備中寄存器的首地址對應(yīng)的位帶重映射區(qū)首地址；

所述遍歷子單元，與所述讀取子單元耦接，適于根據(jù)所述當前待測試外圍設(shè)備中寄存器的地址范圍，采用所述屏蔽碼遍歷所述當前待測試外圍設(shè)備中的所有寄存器，獲取所述當前待測試外圍設(shè)備中所有存在位帶測試需求的寄存器的地址及其對應(yīng)的位帶重映射區(qū)的地址；

所述初始化子單元，適于對所述所有存在位帶測試需求的寄存器進行初始化處理；

所述寫入子單元，適于以位帶訪問的方式，向所述所有存在位帶測試需求的寄存器對應(yīng)的位帶重映射區(qū)地址寫入測試值，所述測試值與所述期望值相同，且所述測試值與所述初始化處理對應(yīng)的初始值不等。

6.如權(quán)利要求5所述的寄存器位帶的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述主控制器選取不同的待測試外圍設(shè)備對應(yīng)的屏蔽碼文件，所述不同的待測試外圍設(shè)備對應(yīng)的屏蔽碼文件不同且相互獨立設(shè)置。