[發明專利]一種通用強光衰減器及其強光光譜測量系統

在審

• 申請號: 201611123163.4
• 申請日: 2016-12-08
• 公開（公告）號: CN108181674A
• 公開（公告）日: 2018-06-19
• 發明（設計）人: 苑高強;劉民玉;熊祖盛
• 申請（專利權）人: 高利通科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G02B5/02
• 分類號: G02B5/02;G02B6/26;G01J3/28
• 代理公司: 深圳市合道英聯專利事務所(普通合伙) 44309
• 代理人: 朱思全

本發明提供了一種通用強光衰減器及其強光光譜測量系統，該通用強光衰減器包括封閉外殼、設置于封閉外殼內的漫反射的光衰減柱體、設置固定于外殼上的至少一入射光纖接頭和至少一出射光纖接頭，將入射的強光導入強光衰減器，漫反射的光衰減柱體將導入的強光通過漫反射將光衰減，如此可以將強光衰減后導入測量儀器，以便于對強光的測量分析，可以避免用光譜儀測量光譜時出現飽和現象，本發明提供的通用強光衰減器及其強光光譜測量系統可廣泛用于強光測量分析，方便實用。

技術領域

本發明涉及一種強光衰減器及其強光光譜測量系統，尤其涉及一種通用強光衰減器及其強光光譜測量系統。

背景技術

目前常規的衰減強光(如高功率激光和LED)采用兩種方式，一是衰減片，二是積分球。衰減片如圖1所示，101是入射的強光,102是衰減片,103是衰減后的光。顯而易見，使用衰減片102衰減強光因其不密封，對操作者不安全。

積分球如圖2所示，101是入射的強光,103是衰減后的光；201是積分球的光入射孔，202是積分球的光出射孔，203是積分球的外殼，204是用于衰減強光的積分球反射涂層(通常由漫反射材料制成,如硫酸鋇及特氟龍等)。雖然積分球是一個密封體,有很好的強光衰減特性且利于操作者的安全,但其價格貴、體積大又笨重，不適合需要輕便衰減器的應用場合。

為了改進現有技術在實際使用上存在的上述不便與缺陷,所以有必要提出新的設計。

發明內容

針對上述的缺陷，本發明目的在于提供一種通用、便宜及操作簡便的通用強光衰減器。

本發明提供一種通用強光衰減器，包括封閉外殼、設置于封閉外殼內的漫反射的光衰減柱體、設置固定于外殼上的至少一入射光纖接頭和至少一出射光纖接頭。

所述封閉外殼包括依次密封連接的頂蓋、筒身和底蓋；所述漫反射的光衰減柱體包括依次相接的上漫反射片、內漫反射衰減壁和下漫反射片，內漫反射衰減壁設置固定于筒身的內側，下漫反射片設置固定于殼體底蓋上方，上漫反射片設置固定于殼體頂蓋下方；所述入射光纖接頭和出射光纖接頭設置固定于封閉外殼的頂蓋上。入射光纖接頭利用光纖將強光導入通用強光衰減器，出射光纖接頭利用光纖將被衰減光導出通用強光衰減器，上漫反射片、內漫反射衰減壁和下漫反射片通過漫反射衰減強光，這樣上漫反射片、內漫反射衰減壁和下漫反射片構成漫反射的光衰減柱體，通過漫反射衰減導入通用強光衰減器的強光。

根據述通用強光衰減器，所述頂蓋固定入射光纖接頭、出射光纖接頭和上漫反射片；所述筒身固定內漫反射衰減壁，所述底蓋密封下漫反射片和內漫反射衰減壁。

根據所述通用強光衰減器，入射光纖接頭和出射光纖接頭穿透頂蓋和上漫反射片，并固定在頂蓋上。所述的固定有多種方式，如膠粘接、螺釘固定、法蘭或螺母鎖緊等。

根據所述通用強光衰減器，底蓋通過如膠粘接或螺釘固定等方式將下漫反射片和內漫反射衰減壁密封，密封的方式可以是其他多種方式。

根據所述通用強光衰減器，所述封閉外殼包括依次密封連接的頂蓋、筒身和底蓋；所述漫反射的光衰減柱體包括相接的帶頂部的內漫反射衰減壁和下漫反射片，帶頂部的內漫反射衰減壁的壁身設置固定于筒身的內側，帶頂部的內漫反射衰減壁的頂部位于殼體頂蓋下方，下漫反射片設置固定于殼體底蓋上方；所述入射光纖接頭和出射光纖接頭設置固定于封閉外殼的頂蓋上。入射光纖接頭利用光纖將強光導入通用強光衰減器；出射光纖接頭利用光纖將被衰減光導出強光衰減器，下漫反射片和帶頂部的內漫反射衰減壁構成的漫反射的光衰減柱體，通過漫反射衰減導入強光衰減器的強光。