[發明專利]一種校驗弧光保護裝置中光學探頭的結構

有效

• 申請號: 201611121623.X
• 申請日: 2016-12-08
• 公開（公告）號: CN106597270B
• 公開（公告）日: 2019-05-31
• 發明（設計）人: 丁心志;劉柱揆;李福洪;許守東;沈鑫
• 申請（專利權）人: 云南電力試驗研究院（集團）有限公司;云南電網有限責任公司電力科學研究院;昆明大方自動控制科技有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01J1/42
• 代理公司: 昆明大百科專利事務所 53106
• 代理人: 何健

1.一種校驗弧光保護裝置中光學探頭的結構，其特征在于：在光學探頭的中心處設有2個光源發射器，在位于2個光源發射器外環光學探頭均勻對稱分布有若干個接收器；2個光源發射器中，其中一個光源發射器A(101)發射光學探頭敏感波長段的可見光源，其波長為520nm-640nm的可見光，另一個光源發射器B(102)發射波長為200nm-2000nm的光；2個光源發射器分別呈半圓形對拼緊靠成為圓形；接收器以光源為中心對稱分布，所述若干個數量取偶數個；所述結構的使用方法包括以下4個步驟：步驟一：光源發射器A(101)在第三方認證機構進行校準,主要校準信息為準確度情況；

步驟二：根據數學圖形分析方法，確定光源發射器A(101)和光源發射器B(102)的光衰減距離；

步驟三：光源發射器A(101)對光源發射器B(102)提供校準算法，得出不同距離條件下光源發射器B(102)的校準系數；

步驟四：對光源發射器B(102)進行輸出光強度計算，利用光源發射器B(102)的數據得出光學探頭的精度。

2.根據權利要求1所述的一種校驗弧光保護裝置中光學探頭的結構，其特征在于，接收器為4個或6個或8個。

3.根據權利要求1所述的一種校驗弧光保護裝置中光學探頭的結構，其特征在于：數學圖形分析方法是指，ad距離，可以通過根據梯形計算公式，根據ab距離、bc距離、cd距離計算得出ad距離，具體ad＝sqrt((cd-ab)*(cd-ab)+bc*bc)，所示位置具體含義如下：a點表示弧光探頭表面的邊緣，b點表示弧光探頭表面的中心，c點表示光源發射器位置，d點表示接收器位置，ab即為弧光探頭表面邊緣與弧光探頭表面中心的距離，bc距離即為弧光探頭表面中心與光源發射器位置的距離，cd距離即為光源發射器位置與接收器位置的距離，利用公式計算得出ad距離，即為弧光探頭表面邊緣與接收器位置的距離。

4.根據權利要求1所述的一種校驗弧光保護裝置中光學探頭的結構，其特征在于：校準算法為：用φ表示某波長光源衰減程度，其定義為光源發射器A(101)輸出強度與輸入強度之比，φ＝I_出/I_入，I_出表示光源發射器發出光強的大小，I_入表示光學探頭檢測到光強的大小，隨著光源發出光到弧光保護裝置光學探頭接收光的距離不同的條件下，光衰減程度相差較大，具體表征為：當距離在大于等于10cm，而小于2m時，φ隨著距離呈現函數關系，具體為2次函數與3次函數之間；當距離在大于等于2m，而小于4m時，φ隨著距離呈現線性關系，斜率大于等于2；當距離在大于等于4m時，φ隨著距離呈現冪指數關系。

5.根據權利要求4所述的一種校驗弧光保護裝置中光學探頭的結構，其特征在于：校準算法中，光學探頭檢測到光強，指的是，接收器接受弧光保護裝置光學探頭反射到接收器的光。

6.根據權利要求4所述的一種校驗弧光保護裝置中光學探頭的結構，其特征在于：校準算法假設光源發射器A(101)、光源發射器B(102)光衰減大小一致。