[發(fā)明專利]半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611121073.1 | 申請日: | 2016-12-08 |
| 公開(公告)號: | CN106960813A | 公開(公告)日: | 2017-07-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周世培;盧禎發(fā);盧玠甫;杜友倫;蔡嘉雄 | 申請(專利權(quán))人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11409 | 代理人: | 章社杲,李偉 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 結(jié)構(gòu) 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),包括:
襯底,包括層間電介質(zhì)和設(shè)置在所述層間電介質(zhì)上方的硅層,其中,所述層間電介質(zhì)包括設(shè)置在所述層間電介質(zhì)中的導(dǎo)電結(jié)構(gòu);
介電層,設(shè)置在所述硅層上方;以及
導(dǎo)電插塞,與所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)電連接并且從所述介電層延伸穿過所述硅層至所述層間電介質(zhì),
其中,所述導(dǎo)電插塞具有從所述介電層延伸至所述層間電介質(zhì)的長度和沿所述長度一致的寬度。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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