[發明專利]一種合成地震記錄的方法和裝置

有效

• 申請號: 201611116499.8
• 申請日: 2016-12-07
• 公開（公告）號: CN106772578B
• 公開（公告）日: 2018-11-09
• 發明（設計）人: 盧勇旭;彭蘇萍;崔曉芹;杜文鳳
• 申請（專利權）人: 中國礦業大學（北京）
• 主分類號: G01V1/28
• 分類號: G01V1/28
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 王寧寧

1.一種合成地震記錄的方法，其特征在于，包括：

獲取目標工區的地層模型、地震波頻率以及地震子波；其中，所述地層模型至少包括一種類型的界面且每種類型的界面的數量至少為一個；

根據所述地層模型和所述地震波頻率，計算各個地層的反射系數，得到包括頻變反射系數的反射系數矩陣；

根據所述反射系數矩陣和所述地震子波，計算各個時刻的合成地震記錄頻譜；

對所述合成地震記錄頻譜進行傅里葉反變換，得到所有時刻的合成地震記錄；

其中，波阻抗界面的界面兩側介質為均勻各向異性介質時，反射系數R(t_i,f)的計算方法，包括：

當地層界面為裂縫界面時，根據公式R(t_i,f)＝R_w(θ)+R_frac(θ,f)計算所述反射系數；其中，θ為入射角，f為頻率，R_w(θ)為與裂縫無關的波阻抗界面產生的反射系數，R_frac(θ,f)為裂縫產生的反射系數，其值隨頻率變化；t_i表示任意一個時刻；

當地層界面為薄層頂界面時，按照公式r＝-(A₁-BA₂)^-1i_P計算反射系數R(t_i,f)；其中，r表示反射、透射系數向量；R代表反射系數；T代表透射系數；下標PP代表縱波入射、縱波反射；下標PS₁代表縱波入射、快橫波反射；下標PS₂代表縱波入射、慢橫波反射；反射系數R(t_i,f)＝R_PP，其值隨入射角、方位角和頻率的變化而變化；A₁和A₂為傳播矩陣，i_P為入射向量，A₁、A₂和i_P與入射角、方位角、頻率及薄層圍巖物性參數有關；B為薄層傳播矩陣，其值與入射角、方位角、頻率、薄層各向異性參數及薄層其他物性參數有關。

2.根據權利要求1所述的合成地震記錄的方法，其特征在于，根據所述地層模型和所述地震波頻率，計算各個地層的反射系數，得到包括頻變反射系數的反射系數矩陣，包括：

按照公式計算各個地層的反射系數；其中，R(t,f)表示各個地層的反射系數；f表示地震波頻率；t_i表示任意一個時刻；R(t_i,f)表示t_i時刻的反射系數，其值為是實數或者為頻變的復數；n為時間采樣點數；δ為狄拉克函數，其值在t＝t_i為1，其它時刻為0；

將計算的各個地層的所述反射系數與各個時刻進行組合，得到包括頻變反射系數的反射系數矩陣。

3.根據權利要求1所述的合成地震記錄的方法，其特征在于，根據所述反射系數矩陣和所述地震子波，計算各個時刻的合成地震記錄頻譜，包括：

對獲取的所述地震子波進行傅里葉變換，得到地震子波頻譜；

根據所述反射系數矩陣和所述地震子波頻譜，計算各個時刻的合成地震記錄頻譜。

4.根據權利要求3所述的合成地震記錄的方法，其特征在于，根據所述反射系數矩陣和所述地震子波頻譜，計算各個時刻的合成地震記錄頻譜，包括：

按照公式計算各個時刻的合成地震記錄頻譜；其中，表示t_i時刻、頻率為f時的合成地震記錄s(t_i)的頻譜；表示地震子波的子波頻譜；R(t_i,f)表示t_i時刻的反射系數。