[發(fā)明專利]反相器電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611107902.0 | 申請(qǐng)日: | 2016-12-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107026641A | 公開(公告)日: | 2017-08-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 清水尚司 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 辛納普蒂克斯日本合同會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H03K19/00 | 分類號(hào): | H03K19/00;H03K19/0944 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 臧霽晨,鄭冀之 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反相器 電路 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及反相器電路。
背景技術(shù)
關(guān)于近年的半導(dǎo)體集成電路,起因于其高功能化,傾向于功耗越來越增加。例如,在近年的顯示面板驅(qū)動(dòng)器中,由于顯示面板的像素?cái)?shù)的增加等主要原因,功耗的增大變得顯著。功耗的減少是近年的半導(dǎo)體集成電路中的重要的課題之一。
作為半導(dǎo)體集成電路的功耗的增加的主要原因之一,已知有反相器電路特別是CMOS(complementary metal oxide semiconductor,互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)反相器的直通電流。在以下,對(duì)CMOS反相器的直通電流進(jìn)行討論。
圖1示出了最典型的CMOS反相器100的結(jié)構(gòu)。CMOS反相器100具備PMOS晶體管MP1和NMOS晶體管MN1。PMOS晶體管MP1、NMOS晶體管MN1的柵極共同地連接于被輸入輸入信號(hào)VIN1的輸入端子101。PMOS晶體管MP1和NMOS晶體管MN1的漏極共同地連接于輸出輸出信號(hào)VOUT1的輸出端子102。PMOS晶體管MP1的源極連接于高電位側(cè)端子103(例如,電源端子),NMOS晶體管MN1的源極連接于低電位側(cè)端子104(例如,接地端子)。在圖1中,記號(hào)“CLOAD”表示連接于CMOS反相器100的輸出端子102的負(fù)載電容。
圖2是示出圖1的CMOS反相器100的工作的一個(gè)例子的時(shí)間圖。在圖2中圖示了輸入信號(hào)VIN1和輸出信號(hào)VOUT1的電位、以及分別在PMOS晶體管MP1和NMOS晶體管MN1流動(dòng)的電流Ip1、In1的大小|Ip1|、|In1|。假設(shè)在初始狀態(tài)下輸入信號(hào)VIN1為低電平(在圖2的工作中,接地電位VSS)。在該情況下,PMOS晶體管MP1為導(dǎo)通狀態(tài),NMOS晶體管MN1為截止?fàn)顟B(tài),因此,輸出信號(hào)VOUT1為高電平(在圖2的工作中,電源電位VDD)。
當(dāng)輸入信號(hào)VIN1從低電平轉(zhuǎn)變?yōu)楦唠娖綍r(shí),PMOS晶體管MP1變?yōu)榻刂範(fàn)顟B(tài),NMOS晶體管MN1變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài),因此,輸出信號(hào)VOUT1從高電平轉(zhuǎn)變?yōu)榈碗娖健T敿?xì)而言,NMOS晶體管MN1被導(dǎo)通,由此,電流從負(fù)載電容CLOAD經(jīng)由NMOS晶體管MN1向低電位側(cè)端子104流動(dòng),電荷從負(fù)載電容CLOAD被抽出。其結(jié)果是,輸出信號(hào)VOUT1變?yōu)榈碗娖健T儆校趫D2中,時(shí)刻t1示出輸入信號(hào)VIN1從低電平向高電平開始轉(zhuǎn)變的時(shí)刻,時(shí)刻t2表示輸出信號(hào)VOUT1變?yōu)榈碗娖降臅r(shí)刻。輸出信號(hào)VOUT1在從時(shí)刻t1晚了下降時(shí)間tF1的時(shí)刻t2變?yōu)榈碗娖健?/p>
在此,在從時(shí)刻t1到時(shí)刻t2之間,存在PMOS晶體管MP1和NMOS晶體管MN1雙方為導(dǎo)通狀態(tài)的時(shí)間,在該時(shí)間內(nèi),電流在PMOS晶體管MP1和NMOS晶體管MN1雙方流動(dòng)。即,在輸出信號(hào)VOUT1從高電平轉(zhuǎn)變?yōu)榈碗娖降臅r(shí)刻t1和時(shí)刻t2之間的時(shí)間內(nèi),直通電流流動(dòng)。
在輸入信號(hào)VIN1從高電平轉(zhuǎn)變?yōu)榈碗娖降那闆r下也是同樣的。在時(shí)刻t3,當(dāng)輸入信號(hào)VIN1從高電平開始向低電平轉(zhuǎn)變時(shí),在從時(shí)刻t3晚了上升時(shí)間tR1的時(shí)刻t4,輸出信號(hào)VOUT1上升為高電平。在此,在從時(shí)刻t3到時(shí)刻t4之間,存在PMOS晶體管MP1和NMOS晶體管MN1雙方為導(dǎo)通狀態(tài)的時(shí)間,在該時(shí)間內(nèi),電流在PMOS晶體管MP1和NMOS晶體管MN1雙方流動(dòng)。換言之,在輸出信號(hào)VOUT1從低電平轉(zhuǎn)變?yōu)楦唠娖降臅r(shí)刻t3到時(shí)刻t4之間,直通電流流動(dòng)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于辛納普蒂克斯日本合同會(huì)社,未經(jīng)辛納普蒂克斯日本合同會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201611107902.0/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





