[發(fā)明專利]薄砂層水平井流體性質(zhì)的識(shí)別方法和裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611102172.5 | 申請(qǐng)日: | 2016-12-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106761732B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-05-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 肖承文;汪忠浩;周波;吳剛;黃若坤;信毅;李華瑋;王青;王建偉;趙新建;張勝?gòu)?qiáng);朱雷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | E21B49/08 | 分類號(hào): | E21B49/08 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 張洋;黃健 |
| 地址: | 100007 北京市*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 砂層 水平 流體 性質(zhì) 識(shí)別 方法 裝置 | ||
1.一種薄砂層水平井流體性質(zhì)的識(shí)別方法,其特征在于,包括:
獲取距離待識(shí)別點(diǎn)的第一預(yù)設(shè)距離處的第一電阻率,以及獲取距離所述待識(shí)別點(diǎn)的第二預(yù)設(shè)距離處的第二電阻率,其中,所述第二預(yù)設(shè)距離大于所述第一預(yù)設(shè)距離;
根據(jù)所述第二電阻率與所述第一電阻率的比值,確定所述待識(shí)別點(diǎn)的流體性質(zhì);
所述根據(jù)所述第二電阻率與所述第一電阻率的比值,確定所述待識(shí)別點(diǎn)的流體性質(zhì),包括:
若所述第二電阻率與所述第一電阻率的比值大于第一預(yù)設(shè)值,則確定所述待識(shí)別點(diǎn)的流體性質(zhì)為水層;
若所述第二電阻率與所述第一電阻率的比值大于第二預(yù)設(shè)值且小于所述第一預(yù)設(shè)值,則確定所述待識(shí)別點(diǎn)的流體性質(zhì)為水淹層;
若所述第二電阻率與所述第一電阻率的比值小于所述第二預(yù)設(shè)值,則確定所述待識(shí)別點(diǎn)的流體性質(zhì)為油層;
所述第一預(yù)設(shè)值和所述第二預(yù)設(shè)值根據(jù)歷史數(shù)據(jù)得到;
所述待識(shí)別點(diǎn)與地層交界的最近距離為縱坐標(biāo),以所述第二電阻率與所述第一電阻率的比值為橫坐標(biāo),得到坐標(biāo)系。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取距離待識(shí)別點(diǎn)的第一預(yù)設(shè)距離處的第一電阻率,以及獲取距離所述待識(shí)別點(diǎn)的第二預(yù)設(shè)距離處的第二電阻率,包括:
接收陣列感應(yīng)測(cè)井儀器發(fā)送所述的所述第一電阻率和所述第二電阻率;其中,所述陣列感應(yīng)測(cè)井儀器至少包括第一線圈和第二線圈,其中,所述第一線圈用于測(cè)量距離待識(shí)別點(diǎn)的第一預(yù)設(shè)距離處的電阻率,所述第二線圈用于測(cè)量距離待識(shí)別點(diǎn)的第二預(yù)設(shè)距離處的電阻率。
3.根據(jù)權(quán)利要求1-2任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,所述第一預(yù)設(shè)值為1.7,所述第二預(yù)設(shè)值為1.5。
4.一種薄砂層水平井流體性質(zhì)的識(shí)別裝置,其特征在于,包括:
接收模塊,用于獲取距離待識(shí)別點(diǎn)的第一預(yù)設(shè)距離處的第一電阻率,以及獲取距離所述待識(shí)別點(diǎn)的第二預(yù)設(shè)距離處的第二電阻率,其中,所述第二預(yù)設(shè)距離大于所述第一預(yù)設(shè)距離;
處理模塊,用于根據(jù)所述第二電阻率與所述第一電阻率的比值,確定所述待識(shí)別點(diǎn)的流體性質(zhì);
所述處理模塊具體用于若所述第二電阻率與所述第一電阻率的比值大于第一預(yù)設(shè)值,則確定所述待識(shí)別點(diǎn)的流體性質(zhì)為水層;若所述第二電阻率與所述第一電阻率的比值大于第二預(yù)設(shè)值且小于所述第一預(yù)設(shè)值,則確定所述待識(shí)別點(diǎn)的流體性質(zhì)為水淹層;若所述第二電阻率與所述第一電阻率的比值小于所述第二預(yù)設(shè)值,則確定所述待識(shí)別點(diǎn)的流體性質(zhì)為油層;
所述第一預(yù)設(shè)值和所述第二預(yù)設(shè)值根據(jù)歷史數(shù)據(jù)得到;
所述待識(shí)別點(diǎn)與地層交界的最近距離為縱坐標(biāo),以所述第二電阻率與所述第一電阻率的比值為橫坐標(biāo),得到坐標(biāo)系。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置,其特征在于,所述接收模塊具體用于接收陣列感應(yīng)測(cè)井儀器發(fā)送所述的所述第一電阻率和所述第二電阻率;其中,所述陣列感應(yīng)測(cè)井儀器至少包括第一線圈和第二線圈,其中,所述第一線圈用于測(cè)量距離待識(shí)別點(diǎn)的第一預(yù)設(shè)距離處的電阻率,所述第二線圈用于測(cè)量距離待識(shí)別點(diǎn)的第二預(yù)設(shè)距離處的電阻率。
6.根據(jù)權(quán)利要求4-5任一項(xiàng)所述的裝置,其特征在于,所述第一預(yù)設(shè)值為1.7,所述第二預(yù)設(shè)值為1.5。
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