[發(fā)明專利]等離子體產(chǎn)生裝置及包括該裝置的半導(dǎo)體設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611097324.7 | 申請日: | 2016-12-02 |
| 公開(公告)號: | CN108155080A | 公開(公告)日: | 2018-06-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郭士選;蘇恒毅 | 申請(專利權(quán))人: | 北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司 |
| 主分類號: | H01J37/32 | 分類號: | H01J37/32;H01L21/3065 |
| 代理公司: | 北京思創(chuàng)畢升專利事務(wù)所 11218 | 代理人: | 廉莉莉;孫向民 |
| 地址: | 100176 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 主筒 副筒 等離子體產(chǎn)生裝置 半導(dǎo)體設(shè)備 待加工工件 周向設(shè)置 進(jìn)氣孔 等離子體 同軸設(shè)置 均勻性 刻蝕 | ||
1.一種等離子體產(chǎn)生裝置,所述等離子體產(chǎn)生裝置包括主筒和沿所述主筒周向設(shè)置的主筒線圈,所述主筒上方設(shè)有中心進(jìn)氣孔,其特征在于,還包括副筒和沿所述副筒周向設(shè)置的副筒線圈,其中,所述副筒設(shè)置于所述主筒下方,且所述副筒與所述主筒同軸設(shè)置,所述副筒的內(nèi)徑大于所述主筒的內(nèi)徑,在所述副筒與所述主筒之間且在所述主筒的徑向外側(cè)設(shè)有邊緣進(jìn)氣孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,還包括沿所述主筒的徑向方向設(shè)置于所述中心進(jìn)氣孔與所述邊緣進(jìn)氣孔之間的等離子體約束裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述等離子體約束裝置為筒狀。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述等離子體約束裝置與所述主筒同軸設(shè)置。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述等離子體約束裝置的內(nèi)徑D1大于或等于所述主筒的內(nèi)徑D2。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述等離子體約束裝置的高度H1大于或等于所述副筒的高度H2。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述等離子體約束裝置的下端面與待加工工件的上表面之間的距離H3為10-80mm。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述等離子體約束裝置的壁厚T1≥4mm。
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述主筒與所述副筒之間設(shè)置有蓋板,所述邊緣進(jìn)氣孔設(shè)置于所述蓋板上,所述等離子體約束裝置通過連接件固定于所述蓋板下表面。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述連接件通過密封件被密封在所述等離子體約束裝置內(nèi)部。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述等離子體約束裝置的上端設(shè)有法蘭結(jié)構(gòu),所述法蘭結(jié)構(gòu)用于將所述等離子體約束裝置固定于所述蓋板下表面。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的等離子體產(chǎn)生裝置,其特征在于,所述法蘭結(jié)構(gòu)的厚度T2≥8mm。
13.一種半導(dǎo)體設(shè)備,其特征在于,所述半導(dǎo)體設(shè)備包括:
反應(yīng)腔;
基座,設(shè)置在所述反應(yīng)腔內(nèi),用于承載待加工工件;以及
根據(jù)權(quán)利要求1-12中任一項(xiàng)所述的等離子體產(chǎn)生裝置,所述等離子體產(chǎn)生裝置設(shè)置在所述反應(yīng)腔的上方,且所述等離子體產(chǎn)生裝置與所述基座相對設(shè)置。
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