[發明專利]傳輸參數獲取方法及終端

有效

• 申請號: 201611051708.5
• 申請日: 2016-11-24
• 公開（公告）號: CN107493156B
• 公開（公告）日: 2020-04-10
• 發明（設計）人: 李東聲
• 申請（專利權）人: 天地融科技股份有限公司
• 主分類號: H04L5/00
• 分類號: H04L5/00;H04L7/00;H02J7/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種傳輸參數獲取方法，其特征在于，包括：

獲取預設的X個電平跳變形成的N個波形序列的波形序列特征，其中，N為正整數，X為正整數且大于1，所述預設的X個電平跳變形成的N個波形序列中的各個波形序列分別為以下之一：第一波形序列、第二波形序列和第三波形序列，其中，所述第一波形序列、所述第二波形序列和所述第三波形序列具有以下波形序列特征：所述第一波形序列、所述第二波形序列以及所述第三波形序列的傳輸持續時間相同，所述傳輸持續時間與傳輸所述波形序列的波特率呈反比關系，且所述第一波形序列以高電平開始并持續預設時間后跳變為低電平，以高電平結束，其中，所述第一波形序列中出現的低電平在所述傳輸持續時間內所占的總時長不隨傳輸所述波形序列的波特率的變化而變化，所述第二波形序列在所述傳輸持續時間內持續高電平，所述第三波形序列以低電平開始，并以高電平結束，且所述第三波形序列中出現的低電平在所述傳輸持續時間內所占的總時長不隨傳輸所述波形序列的波特率的變化而變化，所述預設的X個電平跳變均為從高電平跳變為低電平；

在接收端口持續檢測X個電平跳變，其中，持續檢測到的所述X個電平跳變均為從高電平變為低電平；

根據所述預設的X個電平跳變形成的N個波形序列的波形序列特征以及持續檢測到的所述X個電平跳變中的任意兩個電平跳變之間的時間間隔計算一個波形序列的傳輸持續時間。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

在所述根據所述預設的X個電平跳變形成的N個波形序列的波形序列特征以及持續檢測到的所述X個電平跳變中的任意兩個電平跳變之間的時間間隔計算一個波形序列的傳輸持續時間之前，所述方法還包括：

判斷所述持續檢測到的所述X個電平跳變中的全部的時間間隔中的每一個時間間隔是否均與所述預設的X個電平跳變形成的N個波形序列中包含的X個電平跳變中的全部的時間間隔中對應的時間間隔符合同一預設關系，如果是，執行所述根據所述預設的X個電平跳變形成的N個波形序列的波形序列特征以及持續檢測到的所述X個電平跳變中的任意兩個電平跳變之間的時間間隔計算一個波形序列的所述傳輸持續時間的步驟。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，

所述波形序列的特征還包括：

所述第一波形序列中出現的低電平在所述傳輸持續時間內所占的總時長小于所述持續時間的二分之一；

和/或，

所述第三波形序列中出現的低電平在所述傳輸持續時間內所占的總時長小于所述持續時間的二分之一。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其特征在于，

所述預設的X個電平跳變形成的N個波形序列至少包括M個波形序列，所述M個波形序列為所述預設的數據幀頭對應的N個波形序列中的前M個波形序列，其中，M為正整數，且M≥2；

所述M個波形序列由所述第一波形序列組成；或者，所述M個波形序列由所述第三波形序列組成；或者，所述M個波形序列包括至少一個第一波形序列和至少一個所述第三波形序列。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，

所述M個波形序列由所述第一波形序列組成時，所述預設的X個電平跳變形成的N個波形序列還包括：在所述M個波形序列之后的至少1個抗干擾波形序列，其中，所述至少1個抗干擾波形序列為所述第二波形序列或所述第三波形序列；

所述M個波形序列由所述第三波形序列組成時，所述預設的X個電平跳變形成的N個波形序列還包括：在所述M個波形序列之后的至少1個抗干擾波形序列，其中，所述至少1個抗干擾波形序列為所述第二波形序列或所述第一波形序列。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法，其特征在于，

N＝8，所述預設的X個電平跳變形成的N個波形序列依次為所述第三波形序列、所述第三波形序列、所述第三波形序列、所述第三波形序列、所述第二波形序列、所述第三波形序列、所述第二波形序列和所述第三波形序列。