[發明專利]保偏光纖軸向、光纖軸線與研磨方向之間夾角的測量方法

有效

• 申請號: 201611047261.4
• 申請日: 2016-11-22
• 公開（公告）號: CN106767554B
• 公開（公告）日: 2019-03-05
• 發明（設計）人: 方洋
• 申請（專利權）人: 深圳新飛通光電子技術有限公司
• 主分類號: G01B11/27
• 分類號: G01B11/27
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種保偏光纖軸向、光纖軸線與研磨方向之間夾角的測量方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟S1，搭建一測試臺，該測試臺上包括依次設置的光源、透鏡及Beam Scan，待測光纖陣列與Beam Scan均置于一可3維移動的馬達上；

步驟S2，將待測光纖陣列裝在測試臺上，使光纖陣列的纖芯連線與水平面平行，且將待測光纖陣列連接到光源的光開關上；

步驟S3，以第一根光纖為基準，調節Beam Scan前后位置，將光纖放置在透鏡焦點位置；

步驟S4，將光切換到第二根光纖，馬達X方向移動距離為兩根光纖的纖芯間距，記錄光點在Beam Scan上的位置，旋轉光纖并切換兩根光纖，使它們的出射光在Beam Scan的Y方向上一致；

步驟S5，切換每一根光纖，將每根光纖調到透鏡焦點，記錄每根光纖對應的馬達位置，根據所有光纖的位置優化旋轉角度，使所有光纖在同一水平面上，將此時光纖角度馬達坐標設為角度參考點，同時根據位置信息計算每根光纖之間的間距，分別記為d₁,d₂……d_n；

步驟S6，將第一根光纖移動到透鏡焦點，移動Beam Scan并調節光纖坐標，使出射光水平，記錄此時Beam Scan坐標X₁、Y₁，則有θ_1x＝(X₁-X₀)/2f，θ_1Y＝(Y₁-Y₀)/2f；其中θ_1x與θ_1Y為第一根光纖的研磨角在X與Y方向上和標準光纖的角度差，f為透鏡焦距，X₀、Y₀為標準坐標；

步驟S7，按照上述方法測量每一根光纖，得到θ_2x……θ_nx,θ_2y……θ_ny，計算各個光纖的角度平均值θ_x＝(θ_1x+θ_2x+……θ_nx),θ_y＝(θ_1y+θ_2y+……θ_ny)，θ_x與θ_y為此光纖陣列的研磨角在X與Y方向上和標準光纖的角度差；

步驟S8，將光開關切換到保偏光纖的通道，旋轉光纖將Beam Scan上的光功率調節至最大，記錄角度馬達的讀數并減去參考值，記為Ф₁，按照此方法測量其他光纖，記為Ф₂……Ф_m。

2.如權利要求1所述的保偏光纖軸向、光纖軸線與研磨方向之間夾角的測量方法，其特征在于，所述步驟S1還包括校正光纖、透鏡及Beam Scan平行度，光軸定標的步驟：若平行則繼續測量，若不平行則需微調光纖、透鏡及Beam Scan的相對位置。

3.如權利要求2所述的保偏光纖軸向、光纖軸線與研磨方向之間夾角的測量方法，其特征在于，所述校正及光軸定標步驟包括：

步驟Sa1，選擇一根研磨角已知的光纖作為標準光纖，通過觀察Beam Scan近場與遠場的變化，將標準光纖調節到透鏡的焦點上，使出射光為準直光；

步驟Sa2，旋轉標準光纖360°，記錄Beam Scan上面光斑的最大高度Y_max和最小高度Y_min；

步驟Sa3，若研磨角θ＝(Y_max-Y_min)/2f等式成立，則說明光纖、透鏡及Beam Scan平行，繼續測量；若等式不成立，則說明光纖、透鏡及Beam Scan不平行，則需微調光纖、透鏡和BeamScan的相對位置，使等式成立。