[發(fā)明專利]一種碲鋅鎘基碲鎘汞薄膜的磨拋損傷測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611041446.4 | 申請日： | 2016-11-24 |
| 公開（公告）號： | CN106546619A | 公開（公告）日： | 2017-03-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 許秀娟 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國電子科技集團(tuán)公司第十一研究所 |
| 主分類號： | G01N23/22 | 分類號： | G01N23/22 |
| 代理公司： | 工業(yè)和信息化部電子專利中心11010 | 代理人： | 于金平 |
| 地址： | 100015*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 碲鋅鎘基碲鎘汞 薄膜 損傷 測試 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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