[發(fā)明專利]成像儀不同焦面譜段配準(zhǔn)精度測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201611039350.4
• 申請(qǐng)日: 2016-11-21
• 公開（公告）號(hào): CN106768391B
• 公開（公告）日: 2019-01-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何軍;楊勇;代海山;孫允珠;蔣光偉;李云端;葉擎昊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海衛(wèi)星工程研究所
• 主分類號(hào): G01J5/52
• 分類號(hào): G01J5/52;G01J3/28
• 代理公司: 上海漢聲知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31236
• 代理人: 郭國(guó)中

本發(fā)明提供了一種成像儀不同焦面譜段配準(zhǔn)精度測(cè)試方法，包括以下步驟：步驟一，將待測(cè)成像儀放置在精密轉(zhuǎn)臺(tái)上；步驟二，成像儀、光源及地面設(shè)備加電，調(diào)整光源、靶標(biāo)及平行光管的中心與待測(cè)成像儀的光軸重合，確保靶標(biāo)可成像在探測(cè)器上；步驟三，調(diào)整精密轉(zhuǎn)臺(tái)平面與探測(cè)器空間維平行；步驟四，調(diào)整精密轉(zhuǎn)臺(tái)，使靶標(biāo)成像于第一譜段的某一像元，獲得最大像元輸出值并記錄轉(zhuǎn)臺(tái)角度；步驟五，按照譜段維方向調(diào)整精密轉(zhuǎn)臺(tái)，使靶標(biāo)成像于另一探測(cè)器焦面第二譜段的像元上，獲得最大像元輸出值并記錄轉(zhuǎn)臺(tái)角度。本發(fā)明滿足成像儀不同譜段圖像融合質(zhì)量的要求。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測(cè)試方法，具體地，涉及一種成像儀不同焦面譜段配準(zhǔn)精度測(cè)試方法。

背景技術(shù)

多光譜圖像是由光譜成像儀對(duì)同一地物在幾個(gè)到幾十個(gè)不同譜段上成像所獲取的一種三維立體圖像，同時(shí)包含了地物的空間和光譜信息，目前廣泛應(yīng)用于資源勘探、目標(biāo)識(shí)別、環(huán)境保護(hù)等方面。

對(duì)于工作譜段范圍較窄的成像儀，通常采用一體化的探測(cè)器進(jìn)行成像，但隨著遙感技術(shù)的不斷發(fā)展，寬工作譜段范圍、高分辨率、大幅寬已成為成像儀發(fā)展的必然趨勢(shì)，導(dǎo)致成像儀主光學(xué)設(shè)計(jì)采用分光路或分視場(chǎng)的形式將光信息匯聚到不同的探測(cè)器焦面上。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷，本發(fā)明的目的是提供一種成像儀不同焦面譜段配準(zhǔn)精度測(cè)試方法，其滿足成像儀不同譜段圖像融合質(zhì)量的要求。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供一種成像儀不同焦面譜段配準(zhǔn)精度測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一，將待測(cè)成像儀放置在精密轉(zhuǎn)臺(tái)上；

步驟二，成像儀、光源及地面設(shè)備加電，調(diào)整光源、靶標(biāo)及平行光管的中心與待測(cè)成像儀的光軸重合，確保靶標(biāo)可成像在探測(cè)器上；

步驟三，調(diào)整精密轉(zhuǎn)臺(tái)平面與探測(cè)器空間維平行；

步驟四，調(diào)整精密轉(zhuǎn)臺(tái)，使靶標(biāo)成像于第一譜段的某一像元，獲得最大像元輸出值并記錄轉(zhuǎn)臺(tái)角度；

步驟五，按照譜段維方向調(diào)整精密轉(zhuǎn)臺(tái)，使靶標(biāo)成像于另一探測(cè)器焦面第二譜段的像元上，獲得最大像元輸出值并記錄轉(zhuǎn)臺(tái)角度；

步驟六，根據(jù)步驟四和步驟五獲得的兩次轉(zhuǎn)臺(tái)角度計(jì)算第一譜段與第二譜段間的配準(zhǔn)精度；

步驟七，其他譜段間的配準(zhǔn)精度可按照步驟一至步驟六測(cè)試；或者工藝保證同一焦面譜段間的配準(zhǔn)精度，通過(guò)每?jī)蓚€(gè)不同焦面間某一譜段間的配準(zhǔn)精度，獲得所有譜段間的配準(zhǔn)精度。

優(yōu)選地，所述步驟一中的精密轉(zhuǎn)臺(tái)調(diào)節(jié)精度應(yīng)具有較高精度，優(yōu)于波段配準(zhǔn)精度要求的1/3。

優(yōu)選地，所述步驟三中調(diào)整精密轉(zhuǎn)臺(tái)平面與探測(cè)器空間維平行可通過(guò)基準(zhǔn)棱鏡標(biāo)定或靶標(biāo)成像調(diào)節(jié)方法實(shí)現(xiàn)；精密轉(zhuǎn)臺(tái)平面與探測(cè)器空間維的平行度優(yōu)于波段配準(zhǔn)精度要求的1/3。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有如下的有益效果：本發(fā)明填補(bǔ)了現(xiàn)有技術(shù)中的空白；本發(fā)明為成像儀圖像融合處理提供譜段配準(zhǔn)偏差依據(jù)，提高融合圖像質(zhì)量。

附圖說(shuō)明

通過(guò)閱讀參照以下附圖對(duì)非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述，本發(fā)明的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更明顯：

圖1為成像儀不同焦面譜段配準(zhǔn)精度測(cè)試示意圖。

圖2為精密轉(zhuǎn)臺(tái)方位角、俯仰角定義示意圖。

圖3為在微調(diào)精密轉(zhuǎn)臺(tái)過(guò)程中記錄精密轉(zhuǎn)臺(tái)俯仰角與像元輸出DN值的關(guān)系的示意圖。

具體實(shí)施方式