[發明專利]一種無補償裝置的非制冷紅外測溫儀的測溫方法

有效

• 申請號: 201611011685.5
• 申請日: 2016-11-17
• 公開（公告）號: CN106768347B
• 公開（公告）日: 2019-03-05
• 發明（設計）人: 梁錫寧;毛義偉
• 申請（專利權）人: 中國航空工業集團公司洛陽電光設備研究所
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00
• 代理公司: 西北工業大學專利中心 61204
• 代理人: 王鮮凱

1.一種無補償裝置的非制冷紅外測溫儀的測溫方法，其特征在于步驟如下：

步驟1：將非制冷紅外測溫儀上電，設定高低溫試驗箱的環境溫度T_ENV；

步驟2：當探測器焦平面溫度處于穩定狀態時采集該時刻的探測器焦平面溫度數據T_FPA、黑體的輻射溫度T_BLACK、紅外熱像儀的平均灰度數據G_T，得到一組四維數據(T_ENV，T_BLACK，T_FPA，G_T)；

步驟3：等梯度改變設定的環境溫度T_ENV，使探測器焦平面溫度等梯度改變ΔT度，等待焦平面溫度穩定后重復步驟2，得到多個等梯度改變后的若干組四維數據(T_ENV，T_BLACK，T_FPA，G_T)；所述改變是：當設定的環境溫度T_ENV為高溫時，改變為降低溫度；當設定的環境溫度T_ENV為低溫時，改變為升高溫度；

步驟4：將若干組數據擬合得到觀察曲面規律，采用二次線性擬合建立測溫數學模型，得到待測物體溫度T_body＝f(T_ENV,T_FPA,G_T)曲面計算公式；

步驟5：將四維數據的曲面擬合公式輸入至紅外熱像儀，計算每個像素點的紅外測溫數據。

2.根據權利要求1所述無補償裝置的非制冷紅外測溫儀的測溫方法，其特征在于：紅外熱像儀的灰度采集方式為低壓差分信號傳輸至工控機。

3.根據權利要求1所述無補償裝置的非制冷紅外測溫儀的測溫方法，其特征在于：所述紅外熱像儀的平均灰度數據G_T位深為14bit。

4.根據權利要求1所述無補償裝置的非制冷紅外測溫儀的測溫方法，其特征在于：所述紅外熱像儀的黑體輻射溫度T_BLACK的范圍為-10℃到120℃。

5.根據權利要求1所述無補償裝置的非制冷紅外測溫儀的測溫方法，其特征在于：所述探測器焦平面數據T_FPA的溫度范圍為10℃到60℃。

6.根據權利要求1所述無補償裝置的非制冷紅外測溫儀的測溫方法，其特征在于：所述探測器焦平面溫度變化量ΔT為0.5℃。