[發(fā)明專利]一種光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610996247.2
• 申請日: 2016-11-11
• 公開（公告）號: CN106656038B
• 公開（公告）日: 2018-11-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 桑燕;羅坤;邵佳俊;侯宏兵;周光大
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州福斯特應(yīng)用材料股份有限公司
• 主分類號: H02S50/10
• 分類號: H02S50/10
• 代理公司: 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 33200
• 代理人: 邱啟旺

1.一種光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：包括以下步驟：

(1)制作一種小型光伏組件，結(jié)構(gòu)至少包含玻璃、封裝膠膜、太陽能電池和背部支撐材料；

(2)將組件正面遮光后，采用恒流源連接組件正極和負(fù)極，在組件內(nèi)通恒定電流I，記錄恒流源顯示的電壓值為初始數(shù)據(jù)V₀；

(3)在組件正面玻璃面貼上導(dǎo)電金屬箔；

(4)在高溫、高濕度和施加偏置電壓條件下，對組件進(jìn)行1h～96h PID測試；

(5)將組件正面遮光后，采用恒流源連接組件正極和負(fù)極，在組件內(nèi)通與步驟(2)相同的恒定電流I，記錄恒流源顯示的電壓值為終點數(shù)據(jù)V；

(6)計算PID測試前后膠膜所封裝組件的電壓下降比例η：η越小表明光伏組件封裝膠膜抗PID性能越好。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：所述的封裝膠膜為光伏組件封裝用膠膜。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：所述的封裝膠膜為乙烯-醋酸乙烯酯共聚物EVA膠膜或聚烯烴PO膠膜中一種或兩種。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：所述的小型光伏組件為太陽能電池發(fā)電單元個數(shù)或發(fā)電面積為常規(guī)尺寸組件的60％及以下的光伏組件。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：所述的小型光伏組件為包含1片～36片電池的光伏組件。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：所述的太陽能電池為晶體硅電池或薄膜電池。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：所述的太陽能電池為晶硅電池片。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：所述的太陽能電池為減反射層折射率為2.08及以上的晶硅電池片。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：所述的恒流源的電流和電壓測試精度至少達(dá)小數(shù)點后兩位。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：在所述步驟(2)和步驟(5)中，恒流源在組件內(nèi)通恒定電流范圍為0.01A～15A，測試單個電流點或逐一測試多個電流條件下的電壓數(shù)據(jù)。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：在所述步驟(2)和步驟(5)中，恒流源在組件內(nèi)通恒定電流范圍為0.01A～5A，測試單個電流點或逐一測試多個電流條件下的電壓數(shù)據(jù)。

12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：所述導(dǎo)電金屬箔為銅箔或鋁箔，且要求與玻璃面充分接觸。

13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：在所述步驟(4)中，測試溫度設(shè)置為60℃～121℃，濕度設(shè)置為85％～100％。

14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光伏組件封裝膠膜抗PID性能加速測試方法，其特征在于：在所述步驟(4)中，施加偏置電壓為組件正負(fù)極短接后連接偏置電源正極，組件表面金屬箔連接負(fù)極并接地；所述偏置電源的電壓可為負(fù)向輸出或正向輸出，施加電壓范圍為-600V～-2000V或+600V～+2000V。